بررسی مدل های رشد لایه نازک بر روی زیرلایه های ناهموار

Similar items

• بررسی سینتیک رشد لایه نازک کربن آمورف انباشت شده به روش کندوپاش پرتو یونی با استفاده از مدل آورامی

  Article2021مواد پیشرفته و پوششهای نوینالهام محقق پور، مجید مجتهدزاده لاریجانی، مرجان رجبی، رضا غلامی پور

  سینتیک رشد لایه نازک کربن آمورف طی فرآیند انباشت در رابطه با مورفولوژی سطح و تحولات ساختاری لایهها بررسی شد. لایه نازک کربن آمورف با استفاده از روش کندوپاش پرتو یونی بر سطح شیشه انباشت شد. بر اساس مدل آورامی، رشد لایه نازک کربن آمورف در ضخامتهای بالاتر از nm 56 ( بعد از s 900 انب

• لایه نشانی لایه نازک نانوهیبریدی TEOS-GPTMS روی زیرلایه پلی‌متیل متاکریلات

  Article2022مواد پیشرفته در مهندسی (استقلال)مجتبی حاج‌فرج‌زاده، اکبر اسحاقی، عباسعلی آقائی

  لایه نازک نانوهیبریدی تترا اتیل اورتوسیلیکات- تری‌گلیسیدوکسی‌یپروپیل تری‌متوکسی‌سیلان روی زیرلایه پلی‌متیل متاکریلات به‌روش سل- ژل غوطه‌وری اعمال شد. آزمون‌های پراش‌سنجی پرتو ایکس، طیف‌سنجی تبدیل فوریه مادون قرمز با تکنیک بازتاب کلی تضعیف شده، میکروسکوپی الکترونی روبشی گسیل میدان

• رشد و بررسی خواص ساختاری و الکتریکی لایه های نازک pb الکتروانباشت شده بر روی زیرلایه های au و cu

  Article2011پژوهش سیستم های بس ذره اینرگس نوازش، غلامرضا نبیونی، نرگس حمزه لو صفایی

  در این تحقیق لایه های نازک pb با ضخامت های مختلف به روش الکتروانباشت تک حمام و با استفاده از سه الکترود بر روی زیرلایه های مس و طلا تهیه شدند. برای به دست آوردن ولتاژ مناسب انباشت از مطالعه ولتامتر چرخه ای استفاده شد. ضخامت لایه های انباشت شده با استفاده از دستگاه dektak3 اندازه

• بررسی ساختاری لایه های نازک cds ساخته شده روی زیرلایه های با شرایط متفاوت

  Articleعلوم و مهندسی سطح ایران

  لایه های نازک سولفید کادمیم، با استفاده از روش تبخیر آنی با نرخ لایه نشانی nm/s 5/2 و ضخامت تقریبی nm 800 در خلاء )6-10 5 تور( ساخته شدند. در این پژوهش، به منظور مطالعه آثار زیرلایه روی خواص ساختاری نمونه ها، از دو نوع زیر لایه، شیشه و ( ito )indium tin oxide استفاده گردید. خواص

• بررسی ساختاری لایه های نازک CdS ساخته شده روی زیرلایه های با شرایط متفاوت

  Article2012علوم و مهندسی سطح ایران

  لایه های نازک سولفید کادمیم، با استفاده از روش تبخیر آنی با نرخ لایه نشانی nm/s 5/2 و ضخامت تقریبی nm 800 در خلاء )6-10 5 تور( ساخته شدند. در این پژوهش، به منظور مطالعه آثار زیرلایه روی خواص ساختاری نمونه ها، از دو نوع زیر لایه، شیشه و ( ITO )Indium Tin Oxide استفاده گردید. خواص

• مطالعه خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی لایه های نازک اکسید روی آلایش شده با ناخالصی نیتروژن (ZnO:N) رشد یافته بر روی شیشه و لایه واسط ZnO به روش اسپری پایرولیزیز

  Article2015فیزیک کاربردیحسین عشقی، نرگس یاسین زاده

  لایه های نازک اکسید روی آلایش یافته با ناخالصی نیتروژن (ZnO:N) به روش اسپری پایرولیزیز بر روی شیشه و نیز لایه واسط اکسید روی خالص در دمای 0C450 به روش اسپری پایرولیزیز سنتز شدند. طیف XRD نمونه ها نشان دهنده رشد نمونه ها به صورت بس بلوری در فاز ششگوشی بوده در حالی که جهتگیری ترجیح