بررسی خواص لایه های نازک ti تهیه شده به روش کندوپاش مگنترونی dc
Abstract
چکیده ندارد.
چکیده ندارد.
لایهنازکهای فریت نیکل-روی (NZF) رشد یافته بر روی زیرلایه تک بلور سیلیکون و شیشه با استفاده از کندوپاش مگنترون RF تولید شدند. آزمونهای XRD ، FE-SEM ، AFM ، UV-vis و VSM برای تعیین ترکیب فازی و توپوگرافی سطح به همراه خواص اپتیکی و مغناطیسی لایههای نازک فریت NZF انجام شد. تمامی
علاقه به تحقیق و پژوهش در زمینه پلاسماهای غباری که رشته جدیدی در فیزیک پلاسما میباشد با توسعه صنعت میکروالکترونیک رشد چشمگیری داشته است. ذرات غبار که تا کنون به عنوان آلودگی در نظر گرفته میشدند، امروزه در فنآوری های لایه گذاری برای صنایع میکروالکترونیک، اپتیک، الکترواپتیک استفا
در این پژوهش پوشش تانتالم به روش کندوپاش مگنترونی جریان مستقیم روی سیلیکون (۱۰۰) و فولاد زنگنزن L۳۱۶ لایهنشانی شد. خواص ساختاری پوشش تانتالم به کمک آزمون پراش پرتو ایکس ارزیابی شده و از میکروسکوپهای الکترونی عبوری و روبشی و همچنین میکروسکوپ نیروی اتمی جهت بررسی سطح مقطع و مورف
در این پژوهش، لایههای نازک نانوساختاری CdS با سه ضخامت مختلف (حدود 88، 140 و 211 نانومتر) به روش حمام شیمیایی تهیه و اثر تابش گاما بر خواص ساختاری و اپتیکی آنها بررسی شد. تصاویر SEM نشان دادند که لایهها سطحی یکنواخت با نانوذرات کروی و توزیع همگن دارند و تابش گاما موجب تغییر شک