نتایج جستجو برای: gaas

تعداد نتایج: 11901  

2000
E. A. Fossum

Interfacial As is shown to reduce reverse-bias current in AI-GaAs Schottky barriers. It is suggested that the leakage reduction is associated with the removal oflow work function phases at the interface. In addition, current-voltage measurements performed on Ino.75 Gaa.25 As-GaAs heterojunctions indicate a dependence upon the condition of the GaAs prior to deposition of the Ino.75 Gaa.25 As layer.

Journal: :Applied Surface Science 2023

• In this work, the first integration of a continuous polycrystalline CdZnO thin layer on GaAs, one dominant mid-IR optoelectronic platforms, is reported. The preserved out-of-plane orientation crystal grain yields very minor degradation plasma damping compared to monocrystalline grown sapphire. CdZnO/GaAs system holds Surface Plasmon Polaritons with figure merit comparable best TCOs in mid-IR:...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه علم و صنعت ایران - دانشکده برق 1379

رشد لایه های رونشستی gaas برای اولین بار در ایران با رونشستی پرتو مولکولی mbe انجام شد. این لایه ها عموما" با نرخ یک میکرون در ساعت و با ناخالصی سیلیسیم بر زیرلایه های gaas(001) رشد داده شده است . کیفیت بلوری لایه ها همزمان با انجام رشد توسط سیستم پراش بازتابی الکترون پر انرژی (rheed) تحت مراقبت قرار می گرفت . توسط توزیع نگار خازن - ولتاژ الکتروشیمیایی (ecvp) توزیع چگالی ناخالصی در عمق و نیز ضخ...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه شهید چمران اهواز - دانشکده مهندسی 1392

در این پژوهش، از مدل مونتکارلو تک ذرهای برای محاسبه سرعت الکترون در نیمرسانای gaas و از مدل مونتکارلو تجمعی برای بررسی دیود n-i-n استفاده شده است. سرعت الکترون در دماهای بین 77 تا 300 درجه کلوین نیز بررسی شده است. همچنین ضریب یونیزاسیون برخوردی الکترون برای ترکیبهای نیم رسانای gaas و alxga1-xas با کسرهای مولی 0.2، 0.3 و 0.4 با در روش مونتکارلوی تجمعی و تک ذرهای به دست آمده است که با دادههای عمل...

Journal: :Applied optics 2002
Nibu A George C P G Vallabhan V P N Nampoori P Radhakrishnan

Photothermal beam deflection studies were carried out with GaAs epitaxial double layers grown on semi-insulating GaAs substrates. The impurity densities in thin epitaxial layers were found to influence the effective thermal diffusivity of the entire structure.

2014
X. W. Liu A. A. Hopgood B. F. Usher

The Open University's repository of research publications and other research outputs Formation of misfit dislocations in strained-layer GaAs/In x Ga 1–x As/GaAs heterostructures during postfabrication thermal processing Journal Article (2003). Formation of misfit dislocations in strained-layer GaAs/InxGa1–xAs/GaAs heterostructures during postfabrication thermal processing. It is demonstrated th...

2001
J. Nissilä K. Saarinen

Positron thermalization in Si and GaAs has been studied both by experiments and simulations. The decrease in the positron mean energy due to the interactions with longitudinal-acoustic phonons was calculated down to 4 K by solving numerically the Boltzmann equation for the positron momentum distribution. We find that the differences in the strength of the positron-phonon coupling can result in ...

2002
Tamotsu Kimura

High speed and low power consumption are vital in ICs for high-speed optical communications systems. Some of the competing IC elements in this field include: Si-BJT (Silicon Bipolar Transistor), Si-CMOS (Silicon Field Effect Transistor), SiGe-BJT (Silicon Germanium Bipolar Transistor), GaAs-HBT (Gallium Arsenide Heterobipolar Transistor), GaAs-FET (Gallium Arsenide Field Effect Transistor), and...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه فردوسی مشهد - دانشکده علوم 1394

در این پژوهش خواص الکترونی و اپتیکی نانو ساختارهای تک لایه aln و gaas براساس اصول اولیه تابع گرین بس- ذره ای و فرمول بندی معادله بته- سالپیتر محاسبه شده است. تصحیحات انرژی به ویژه مقادیر dft با استفاده از تقریب gw برای مواد انجام شدند، تا اینکه مقدار گاف های انرژی بدست آیند. با استفاده از تصحیحات شبه- ذره گاف انرژی غیرمستقیم تک لایه لانه زنبوری aln 8/5 الکترون ولت (gaas 42/3 الکترون ولت) محاسبه...

2002
W. P. DUMKE

A bipolar transistor structure is proposed having application for either high frequency operation or integration with certain types of light emitting devices. The structure involves liquid phase epitaxially grown layers of GaAs for the collector and base regions, and of Ga,_,Al,As for the heterojunction emitter. The high frequency potential of this device results primarily from the high electro...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید