نتایج جستجو برای: electromigration

تعداد نتایج: 932  

Journal: :Journal of the Japan Institute of Metals 2006

2013
P. S. Ho

für Naturforschung in cooperation with the Max Planck Society for the Advancement of Science under a Creative Commons Attribution 4.0 International License. Dieses Werk wurde im Jahr 2013 vom Verlag Zeitschrift für Naturforschung in Zusammenarbeit mit der Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. digitalisiert und unter folgender Lizenz veröffentlicht: Creative Commons Namen...

1998
Krishna Seshan Timothy J. Maloney Kenneth J. Wu

This paper describes how the quality and reliability of Intel’s products are designed, measured, modeled, and maintained. Four main reliability topics: ESD protection, electromigration, gate oxide wearout, and the modeling and management of mechanical stresses are discussed. Based on an analysis of the reliability implications of device scaling (the process of a planned reduction of dimensions ...

Journal: :IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems 2001

Journal: :Bulletin of the Chemical Society of Japan 1961

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