در این پژوهش، لایه­های نازک گارنت ایتریم آهن جانشانی شده با سریم، با فرمول عمومی cexy3-xfe5o12 و با مقادیر (7/0و5/0و3/0و1/0و0x=)، به روش سل- ژل و پوشش چرخشی (spin coating) و عملیات گرمادهی بر بسترهای کوارتز تهیه شد. نمونه­های تهیه شده، برای بررسی ویژگی­های فیزیکی، مورد بررسی قرار گرفتند، اثر ناخالصی ce بر خواص ساختاری، ریخت­شناسی سطح فیلم و ویژگی­های مغناطیسی به­ترتیب با آنالیز پراش پرتو ایکس (...

با گسترش فناوری اطلاعات و ارتباطات، استفاده از نور قطبیده لیزر، برای کاربردهای مهمی چون کلیدزنی و ذخیره اطلاعات در لایه های نازک فرومغناطیس و فرو الکتریک، مورد توجه قرار گرفته است [1]. برای انجام تحقیق و افزایش کاربری این لایه ها، رسم دقیق پسماندنوری و مغناطیسی لایه ها بسیار مهم است. در این تحقیق با استفاده از نور لیزر قطبیده شده خطی، مدارهای الکترونیکی خاص و نیز نرم افزار ویژه ای که برای ثبت ا...

لایه نشانی یک لایه بسیار نازک 9 تا 18 نانومتری از نانوذره های کربنی بر روی الکترودito با استفاده از روش لایه نشانی لایه- لایه انجام شده و اثرات آن بر روی فرایندهای الکتروشیمی مورد بررسی قرار گرفته است. شناسایی این لایه های بسیار نازک با استفاده از تکنیکهای اسپکتروفتومتری، اسپکتروسکوپی امپدانس و میکروسکوپی نیروهای اتمی انجام شده است. بررسیهای انجام شده با سیستم های ردوکس جذب شده آنیونی و کاتیونی...

  در این مقاله لایه­های نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده­ و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایه‌ها با استفاده از روش روبش- z اندازه­گیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش- z از لیزر موج   اندازۀ ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایه­های نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روب...

در این پژوهش، لایه نازک دی اکسید تیتانیوم آلاییده شده با وانادیوم با غلظت­های مختلف ( 5/1،0 و 5 درصد وزنی) به روش سل-ژل بر روی زیرلایه­های شیشه­ای رسوب داده شد. خواص ساختاری، آنالیز عنصری، الکتریکی، اپتیکی و زبری سطح لایه­های نازک به ترتیب توسط روش­های XRD، DES، LCR meter، طیف سنجی UV-Vis  و AFM مورد مطالعه قرار گرفت.  نتایج الگوی XRD نشان داد که لایه­های نازک دارای ساختار پلی کریستالی تتراگونا...

امروزه از پوسته های کامپوزیت لایه ای در کاربردهای مختلفی نظیر مهندسی هوافضا، مهندسی مکانیک، مهندسی صنایع دریایی و مهندسی خودرو به صورت گسترده ای استفاده می شود. در این مقاله، انتقال صوت به داخل یک پوسته کامپوزیت لایه ای نامحدود باهدف بررسی انتقال صوت به داخل کابین هواپیما مورد مطالعه قرار گرفته است. پوسته در داخل محیط سیال غوطه ور بوده و سیال خارجی با سرعت ثابتی از روی آن عبور می کند. از روش ام...

نانومیله­ های اکسیدروی به روش رسوب حمام شیمیایی (CBD) روی بستر سیلیکون بذردار به صورت عمودی و یکنواخت رشد داده شدند. از لایه نازک اکسیدروی که به روش کندوپاش بر روی بستر سیلیکونی لایه ­نشانی شد به عنوان لایه بذر استفاده شد. اثرات دما و زمان رشد بر خواص ساختاری و مورفولوژیکی نانومیله­ های اکسید روی با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی و پراش اشعه ایکس بررسی شد. مطالعات انجام شده نشان داد که است...

اتصال دو متریک به یکدیگردر نسبیت عام، اغلب با ناپیوستگی مشتقات متریک در دو طرف مرز یا ابر سطح جداکننده، همراه است. این ناپیوستگی به نوبه خود منجر به تکینگی از نوع تابع دلتا در تانسور انحنای ریمانی بر روی مرز می شود. اگر مرز جداکننده دو متریک یک ابر سطح زمان گونه (یا فضا گونه) باشد، تنها بخش ریچی از تانسور انحنای ریمانی تکین است و این تکینگی به تانسور انرژی- تکانه ماده روی ابرسطح ارتباط داده می ...

الکتروانباشت یکی از ساده¬ترین، انعطاف¬پذیرترین و کم¬هزینه¬ترین روش¬های لایه¬نشانی نسبت به سایر روش¬های موجود بر پایه¬ی تکنیک خلأ می¬باشد که امکان رشد تک لایه¬ای¬ها، چندلایه¬ای¬ها و لایه¬های آلیاژی مغناطیسی را در شرایط طبیعی دما و فشار فراهم می¬کند. در این پروژه لایه¬های نازک pt، fe و آلیاژی fept بر روی زیرلایه¬های فلزی مس و طلا، به روش الکتروانباشت با ¬درصدهای مختلف آهن در مد کرنوکولومتری (ch...

در این پایان نامه لایه های ستونی و مورب سولفید روی با روش تبخیر حرارتی در خلاء تهیه گردید وخواص ساختاری و اپتیکی آن به وسیله آنالیزهای fesem و afm و پراش پرتو ایکس و طیف سنجی مورد بررسی قرار گرفت. ثابت شبکه و ساختار بلوری از آنالیز پراش پرتو ایکس و زاویه شیب ستونها نسبت به خط عمود بر زیرلایه و ضخامت لایه ها از آنالیز fesem بررسی شدند. زبری سنجی و ریخت شناسی و تخلخل لایه ها نیز به وسیله آنالیز a...