برای رسیدن به سطوح بالای پوشش خطا، معمولا تغییرات زیادی در مقادیر سیگنالهای داخلی مدار ایجاد می گردد که باعث افزایش مصرف توان نسبت به حالت کار عادی مدار است. علاوه بر این آزمون مبتنی بر پویش در زمان شیفت دادن بردارها تعداد زیادی گذار در ورودی مدار تحت آزمون ایجاد می نماید که این مسئله باعث فعالیتهای کلیدزنی زیاد در مدارهای داخلی واحد تحت آزمون و افزایش توان خواهد شد. توان مصرفی بالا در زمان آزم...
