نتایج جستجو برای: test design
تعداد نتایج: 1680057 فیلتر نتایج به سال:
The challenge for testers: reduce the testing interval without reducing quality. One answer: find a new way to approach test design and test generation. This paper will discuss an ongoing Lucent Technologies experiment in automated test generation from a behavioral model of the software product under test. Results indicate that our new approach can increase the effectiveness of our testing whil...
برای رسیدن به سطوح بالای پوشش خطا، معمولا تغییرات زیادی در مقادیر سیگنالهای داخلی مدار ایجاد می گردد که باعث افزایش مصرف توان نسبت به حالت کار عادی مدار است. علاوه بر این آزمون مبتنی بر پویش در زمان شیفت دادن بردارها تعداد زیادی گذار در ورودی مدار تحت آزمون ایجاد می نماید که این مسئله باعث فعالیتهای کلیدزنی زیاد در مدارهای داخلی واحد تحت آزمون و افزایش توان خواهد شد. توان مصرفی بالا در زمان آزم...
1. We propose a technique for test scheduling and design of test bus infrastructure where test application time and test bus length and width are minimized while constraints on power consumption and test resources are considered. Our approach is suitable for repeated use in the design space exploration process due to its low computational cost. For the final design, we use simulated annealing t...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید