امروزه مواد متخلخل دارای اهمیت و کاربردهای زیادی در صنعت می باشند. از میان این مواد آلومینای نانو متخلخل به علت داشتن خواص منحصر به فرد می تواند در موارد مختلفی مانند پوشش های مقاوم به فرسایش و غلاف های هدایت کننده الیاف و سیم ها استفاده گردد. با استفاده از روش های iba می توان بدون آسیب رساندن به نمونه از جزئیاتی همچون نوع عناصر، نمایه غلظت بر حسب عمق و ساختار کلی ماده مورد آنالیز با خبر شد. به...

مواد متخلخل همانند سیلیسیوم و آلومینای نانو متخلخل در تجهیزات الکترونیکی، آشکارسازها، نانو ساختارها و تولید نانو سیم ها و نالوله ها کاربرد های زیادی پیدا کرده اند. مشخصه یابی ساختاری این مواد چالشی پیش روی پژوهشگران می باشد. برای نمونه های ناهمگن می توان با استفاده از روش های iba اطلاعاتی را در رابطه با نوع، غلظت و نمایه عمقی عناصر این نمونه ها به دست آورد. روش های آنالیز با باریکه یونی (همانند...

در حوزه مرمت و حفاظت از آثار تاریخی و نیز مطالعه آثار از جمله فن شناسی و آسیب شناسی، شناخت مواد متشکله و ترکیب آنها بسیار حائز اهمیت و ضروری می باشد. در این راستا روش‎های مختلف آزمایشگاهی دستگاهی و نیز تست‎های حلال و معرف‎ها، حرارت و ... مورد استفاده قرار می گیرند که به تبع آن ممکن است آسیب‎هایی به آثار وارد شود. در این پروژه کاربرد طیف سنجی قابل حمل پس پراکندگی لیزری رامان بروی شناسایی و مطالع...

سیلیسیوم متخلخل را می توان بعنوان یک بلور سیلیسیوم که دارای شبکه ای از حفره هاست، در نظر گرفت. حفره هایی به ابعاد نانو در توده si ایجاد می شود و به این ترتیب ساختار ستونی، اسفنجی یا ترکیبی از هر دو شکل که با چهارچوبی از نانوسیم های سیلیسیوم بلوری احاطه شده است، شکل می گیرد. بدلیل خواص متنوع و قابل کنترل، سیلیسیوم متخلخل در زمینه های بسیاری از جمله الکترونیک، اپتیک، اپتوالکترونیک و حسگرها کاربرد...

در این تحقیق تاثیر دمای زیر لایه در محدودهC˚450-100 برخواص ساختاری لایه‌های نیترید زیرکونیوم‌ که به‌روش کندوپاش شعاع یونی روی زیر لایه شیشه وسیلیکون تهیه شده ‌است، مورد ‌بررسی قرار گرفته ‌است. تعین ضخامت لایه‌ها با ‌استفاده از آنالیز RBS (طیف پس پراکندگی رادرفورد)   و‌تعیین فازهای کریستالی با توجه به آنالیز XRD (پراش پرتو X)‌ انجام شده‌است. نتایج XRD  نشان داد که با افزایش دما تا C˚400 بر میزان...

در این تحقیق تاثیر دمای زیر لایه در محدودهc˚450-100 برخواص ساختاری لایه های نیترید زیرکونیوم که به روش کندوپاش شعاع یونی روی زیر لایه شیشه وسیلیکون تهیه شده است، مورد بررسی قرار گرفته است. تعین ضخامت لایه ها با استفاده از آنالیز rbs (طیف پس پراکندگی رادرفورد)   و تعیین فازهای کریستالی با توجه به آنالیز xrd (پراش پرتو x) انجام شده است. نتایج xrd  نشان داد که با افزایش دما تا c˚400 بر میزان بلوری...

در این مقاله با استفاده از روش تخلیه قوس الکتریکی ( dc ) و با استفاده از گاز استیلن به عنوان منبع کربن و گازحامل نیتروژن, نانو لوله های کربنی آلاییده به عنصر سه ظرفیتی بور تولید شده است. نمونه های نانو لوله های کربنی نشست یافته بر روی الکترود کاتد را که دارای خاصیت آلاییدگی ساختاری به عنصر بور بودند, جمع آوری و پس از خالص سازی با استفاده از طیف سنجی پس پراکندگی رامان مورد مطالعه و بررسی قرار گر...

تعیین شار انرژی نوترون به دلیل کاربردهای فراوان آن در پزشکی، صنعت، کشاورزی و .... از اهمیت ویژه ای برخوردار است. یکی از روشهایی که جهت طیف سنجی انرژی نوترون به کار برده می شود، روش کره های بانر است. این روش ضمن سادگی در بکارگیری، محدوده وسیعی از انرژی نوترون را از حرارتی تا چند gev پوشش می‏دهد. در این پژوهش ابعاد مختلفی از این روش طیف سنجی مورد بررسی قرار گرفته است؛ با ارزیابی انواع کندکننده‏ها...

روش استروپیکسی، راهکاری نوین در بازسازی ناهمواری سطوح نازک و یک روش تکمیلی در تهیه ی چگالی و توزیع عنصری نمونه می باشد. استفاده از دو آشکارساز هم زمان می تواند در محاسبه ی بهره ی عدم تقارن سطح کمک کند. توسعه ی این روش در زمینه زمین شناسی، متالوژی و صنعت می¬تواند در استحکام، حل شدگی و تجزیه پذیری مواد نقش موثری داشته باشد. نتایج نشان می دهد که با افزایش شعاع استوانه بازه ی دید به سطح تخت نزدیک ...