نتایج جستجو برای: طیف xrd
تعداد نتایج: 44883 فیلتر نتایج به سال:
zns/glass thinlayer in high vacuum condition and $40$ degree deposition angle has been produced by resistance evaporated method with $28$ nm thickness. cabin deposition temperature zns layer was about $50c$ and substrates were kept at room temperature. the atomic force microscopy (afm) and xrd analyses are perfectly accomplished for this layer.
در این پروژه، نانوساختار های geo2به روش سل-ژل، با عامل پوشاننده استیل استونات،nio-sno2 و sno2به روش همرسوبی و با به کارگیری آمین های مختلف با هر دو نقش عامل رسوب دهنده و عامل پوشاننده و pbo2 به روش هیدروترمال با استفاده از هفت نوع عامل پوشاننده کئوردینانسیونی تهیه شده اند. محصولات با الگوی پراش اشعه x (xrd)، طیف تبدیل فوریه مادون قرمز (ft-ir)، طیف سنجی پراش انرژی پرتو ایکس (eds)، طیف ماوراء بنف...
چکیده سابقه و هدف: توانایی میکروارگانیسم ها برای تولید نانوذرات در اندازه، شکل و مورفولوژی های مختلف،باعث شده این روش در سال های اخیر توجه زیادی را به خود جلب کند. هدف از پژوهش حاضر تولید نانو ذرات نقره توسط سویه بومی اکتینومیست تحمل کننده نمک جدا شده از خاک های دریاچه قم می باشد. مواد و روشها:در تحقیق حاضر تولید و خصوصیات نانو ذرات نقره توسط جدایه ی اکتینومیست نمک دوست مورد بررسی ق...
در این تحقیق تاثیر دمای زیر لایه در محدودهc˚450-100 برخواص ساختاری لایه های نیترید زیرکونیوم که به روش کندوپاش شعاع یونی روی زیر لایه شیشه وسیلیکون تهیه شده است، مورد بررسی قرار گرفته است. تعین ضخامت لایه ها با استفاده از آنالیز rbs (طیف پس پراکندگی رادرفورد) و تعیین فازهای کریستالی با توجه به آنالیز xrd (پراش پرتو x) انجام شده است. نتایج xrd نشان داد که با افزایش دما تا c˚400 بر میزان بلوری...
A deep machine-learning technique based on a convolutional neural network (CNN) is introduced. It has been used for the classification of powder X-ray diffraction (XRD) patterns in terms of crystal system, extinction group and space group. About 150 000 powder XRD patterns were collected and used as input for the CNN with no handcrafted engineering involved, and thereby an appropriate CNN archi...
نمونه های بسبلوری m=ni,fe) yba2cu3-xmxo7-δ )با مقادیر آلایش 0≤x≤0/045 به روش سل-ژل ساخته شد. آنالیز فازی و ریز ساختار نمونه ها با طیف اشعه x و sem مورد بررسی قرار گرفت . مقاومت الکتریکی با استفاده از تکنیک چهارمیلهای استاندارد برای 300-77k اندازه گیری شده اند. نتایج بررسی طیف xrd ، با استفاده از نرم افزار maud جانشینی ni در محل (2) cu و fe در محل (1) cu را نشان می دهد. تغییرات دمای گذار برا...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید