بیضی سنجی عددی لایه های نازک ناهمسانگرد

پایان نامه
چکیده

بیضی سنجی یک روش اپتیکی غیر مخرب و غیر تماسی برای مشخصه یابی سطوح مشترک و لایه های نازک است. این روش بر اساس تغییر قطبش نور به هنگام انعکاس از سطوح استوار است. با انجام بیضی سنجی های عددی و مقایسه آنها با داده های بیضی سنجی تجربی می توان مدل های فیزیکی مناسبی برای سطوح و لایه های نازک ارائه داد. هدف اصلی در این پایان نامه طراحی و اجرای یک کد رایانه ای برای انجام بیضی سنجی عددی از لایه های نازک ناهمسانگرد است. در این کار پژوهشی، ابتدا در فصل اول معرفی کلی قطبش نور و تکنیک بیضی سنجی انجام می شود. در فصل دوم، محیط های ناهمسانگرد اپتیکی معرفی می شوند. همچنین انتشار موج تخت تکفام در محیط ناهمسانگرد مورد بررسی قرار می گیرد و فرمول بندی حاکم بر انتشار به صورت تحلیلی و نظری به دست می آید. در فصل سوم، ابتدا مسئله بازتاب و شکست از سطح مشترک تخت بین یک محیط همسانگرد و یک محیط دو شکستی مورد بررسی قرار می گیرد. با استفاده از نتایج به دست آمده از این بررسی، حل عددی بیضی سنجی (تک طول موج) برای بررسی ضخامت لایه های نازک دو شکستی در فصل مشترک بین دو محیط همسانگرد مورد بررسی قرار می گیرد. با انجام محاسبات توسط برنامه رایانه ای طراحی شده برای فرود نور تک طول موج با اسکن زاویه ای، بستگی ضخامت لایه نازک دو شکستی از طریق تغییر حالت قطبش، که مکانیسم اصلی بیضی سنجی می باشد از طریق تعیین ضرایب انعکاس دامنه مشخص شده و نتایج ارئه می شود. در فصل چهارم، ابتدا حل عددی بیضی سنجی طیف نگاری (نور فرودی با جهت گیری ثابت و اسکن طول موجی) برای بررسی ضخامت لایه نازک دو شکستی در فصل مشترک بین دو محیط همسانگرد انجام می شود. همچنین یک مدل کیفی در جهت شناسایی لایه نازک ناهمسانگرد در محیط آزمایشگاه به دست می آید که اساس آن ترسیم ضرایب انعکاس بر حسب طول موج نور فرودی است. در پایان فصل چهارم حل دقیقی از بیضی سنجی که برای تمامی ناهمسانگردی ها نتیجه قابل قبولی داشته باشد، انجام می گیرد. برنامه نوشته شده برای انواع لایه های نازک با ناهمسانگردی های مختلف کاربرد دارد. این برنامه (که در پیوست موجود است) به عنوان برنامه نهایی معرفی می شود. در فصل پنجم، نتایج کلی به دست آمده از این پژوهش ذکر می شود و همچنین پیشنهاد هایی نیز در راستای تکمیل کردن این پژوهش بیان می گردد

۱۵ صفحه ی اول

برای دانلود 15 صفحه اول باید عضویت طلایی داشته باشید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

بررسی ثابت دی الکتریک لایه نازک SiO2با استفاده از آزمون بیضی سنجی

In this paper, we studied the optical behavior of SiO2 thin films prepared via sol-gel route using spin coating deposition from tetraethylorthosilicate (TEOS) as precursor. Thin films were annealed at different temperatures (400-600oC). Absorption edge and band gap of thin layers were measured using UV-Vis spectrophotometery. Optical refractive index and dielectric constant were measured by ell...

متن کامل

مطالعه خواص اپتیکی لایه های نازک به روش بیضی سنجی

در این تحقیق، لایه¬های نازک اکسید ایندیم قلع (ito) به روش تبخیر با پرتو الکترونی واکنش¬پذیر بر روی زیرلایه¬های شیشه¬ای لایه¬نشانی شده¬اند. لایه¬های نمونه با ضخامت¬های اسمی 100، 150 و 250 نانومتر با نرخ انباشت ثابتnm/s 10/0 تهیه شدند. دمای زیر لایه¬ها در خلال لایه¬نشانی در دمای اتاق نگه داشته شد. با استفاده از روش بیضی¬سنجی ثابت¬های اپتیکی، ضریب شکست(n)، ضریب خاموشی (k) در گستره طول موج 370 تا 1...

15 صفحه اول

بررسی ثابت دی الکتریک لایه نازک sio۲با استفاده از آزمون بیضی سنجی

sio2در این مقاله به بررسی رفتار نوری لایه های نازک (teos )تهیه شده به روش سل ژل چرخشی با استفاده از پیش ماده تترااتیل اورتوسیلیکات ، در دماهای مختلف(600– 400) درجه سانتی گراد پرداخته شده uv-vis است. از نتایج حاصل از آزمون برای به دست آوردن لبه جذب و گاف انرژی لایه ها و از آزمون بیضی سنجی (الیپسومتری)  برای به دست آورن ضریب شکست نوری و ضرایب دی الکتریک آنها استفاده شد. نتایج نشان داد که لایه های...

متن کامل

مطالعه اثر دما روی خواص اپتیکی لایه های نازک مس و نقره به روشهای بیضی سنجی و کریمز-کرونیگ

در این پروژه اثر دمای زیرلایه هنگام لایه نشانی روی ثابتهای اپتیکی لایه های نازک cu و ag در بازه طول موج(2600nm - 200 ) بررسی شده اند. در این پروژه از دو روش برای اندازه گیری ثابتهای اپتیکی نمونه ها استفاده شد. اولین روش ، روش کریمرز- کرونیگ است که با استفاده از داده های تجربی بازتابندگی تحت تابش عمودی در بازه پهنی از طول موج، ثابتهای اپتیکی اندازه گیری می شوند. دومین روش روش بیضی سنجی است . در ...

15 صفحه اول

بررسی اثر زمان لایه نشانی بر خواص فیزیکی لایه های نازک N:ZnO

در این تحقیق لایه‌های نازک N:ZnO روی زیر لایه شیشه با استفاده از کندوپاش DC در فشار کاری Torr 2-10×2 در مخلوط گازهای آرگون و نیتروژن لایه نشانی شدند. ضخامت، ریخت‌شناسی، ساختار کریستالی و خواص اپتیکی لایه‌ها در سه زمان کندوپاش مختلف شناسایی شدند. با افزایش زمان لایه نشانی، ضخامت لایه‌ها، زبری سطح و ارتفاع دانه‌ها افزایش می‌یابد. لایه‌ها دارای بافت قوی کریستالی در راستای (002) با ساختار هگزاگونال...

متن کامل

مدل‌سازی خشک شدن لایه نازک زردآلو

در این پژوهش، رفتار خشک شدن برگه دو رقم زردآلو در خشک‌کن لایه نازک آزمایشگاهی براساس مدل‌های ریاضی خشک شدن مورد استفاده در منابع مورد بررسی قرار گرفت. آزمایش‌ها در چهار سطح دمایی 40، 50، 60 و 70 درجه سلسیوس و سرعت هوای 2 متر بر ثانیه انجام گرفت. 9 مدل ریاضی خشک شدن بر داده‌های آزمایشگاهی برازش داده شد. ثابت‌ها و ضرایب مدل‌ها با هم مقایسه شدند. تمام مدل‌های ریاضی خشک شدن براساس سه شاخص آماری مرب...

متن کامل

منابع من

با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده

{@ msg_add @}


نوع سند: پایان نامه

وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه ملایر - دانشکده علوم پایه

میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com

copyright © 2015-2023