مطالعه مورفولوژی و خواص اپتیکی نانولایه های zno روی زیر لایه سیلیکن

پایان نامه

دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره) - قزوین - دانشکده علوم پایه
نویسنده محبوبه نوشادی
استاد راهنما محمد رضا خانلری
سال انتشار 1392

چکیده

در این تحقیق فیلم های نازک اکسید روی با تکنیک لایه نشانی چرخشی سل- ژل بر روی زیرلایه ی سیلیکنی با صفحه ی ترجیحی(0 0 4 )، لایه نشانی شد. خواص ساختاری، اپتیکی و مورفولوژی سطح آنها به ترتیب با استفاده از اندازه گیری های پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی فوتولومینسانس (pl) و میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدان (fesem) بررسی شد. دمای بازپخت 600 درجه سانتی گراد انتخاب شد. نتایج حاصله بیانگر وجود ساختار ورتسیت اکسید روی بدون جهت گیری ترجیحی می باشد. طیف pl در ناحیه مرئی فقط گسیل بنفش مربوط به طول موج حدود 423 نانومتر رانشان می دهد.مورفولوژی سطح نانو لایه ها، دانه های کروی شکل در اندازه ی تخمینی 5/ 117تا 120 نانومتر را نشان می دهد

منابع مشابه

منابع من

با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده

{@ msg_add @}

نوع سند: پایان نامه

دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره) - قزوین - دانشکده علوم پایه

کلمات کلیدی

اکسید روی سیلیکن سل ژل نانو لایه

میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com