تولید الگوهای تست و مکان یابی خطا با استفاده از الگوریتم های ابتکاری جهت افزایش سطح پوشش خطا

در مدار¬های دیجیتال تولید الگو¬های تست اتوماتیک و مکان یابی خطا از اهمیت بالایی برخوردار است چرا که به ارائه یک الگوریتم تست کارآمد در طراحی و پیاده سازی بدون عیب مدار¬های الکترونیکی نیاز داریم. اخیراً با گسترش استفاده از الگوریتم¬های ابتکاری در حل مسائل مختلف مهندسی توانسته¬اند به یک مقدار بهینه دست یابند. لذا در این پژوهش از الگوریتم¬های ابتکاری جدید از قبیل الگوریتم جستجوی گرانشی و الگوریتم صفحات شیبدار برای تولید بردار آزمون اتوماتیک استفاده شده است. این الگوریتم¬ها بردارهای آزمون رابه نحوی تولید می¬کند که در کوتاهترین زمان ممکن به بالاترین درصد پوشش خطا می¬رسند. الگوریتم¬های ابتکاری جدید توانمندی بهتری نسبت به سایر الگوریتم¬ها در یافتن جواب بهینه، البته در این مسئله دارند. برای اینکه بتوان مکان خطا را با احتمال زیاد پیدا کرد برای نخستین بار در مکان یابی خطا از الگوریتم¬های ابتکاری استفاده شده است به گونه¬ای که در ابتدا با استفاده از الگوریتم به گروه بندی خطا می¬پردازد تا جدول خطای اصلی مدار را به جدول¬های کوچکتر تقسیم¬بندی کند و به این ترتیب توانایی الگوریتم برای یافتن جواب بهینه را افزایش دهد و سپس با به کار¬گرفتن الگوریتم در هر گروه برای هر خطا در گروه یک بردار آزمون بهینه و یکتا تولید می¬کند.