نام پژوهشگر: حمیدرضا کاشانی

بررسی و تحلیل رنگ در فرش دوره صفویه و رنگ سنجی فام های آن دوره
پایان نامه وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه هنر - دانشکده هنرهای کاربردی 1389
  حمیدرضا کاشانی   مهدی سوهانگیر

رنگ ها به دنیا زیبایی خاص بخشیده و فرش دنیای زیبایی از رنگ هاست. نخستین تفسیر ذهن از تصویر هر جسم نشأت گرفته از رنگ آن جسم است و زیبایی طرح ها و نقوش در فرش با زبان رنگ ها به تصویر کشیده می شود. در سیر تاریخی هنر-صنعت فرش، عصر صفویه شاهد شکوفایی و کمال این هنرنمایی بوده است و آثار متعدد به یادگار مانده از آن دوران گواه این مدعاست. از اینرو در مطالعه اخیر، رویکرد تحقیق با تکیه بر بررسی فام های استفاده شده در آن دوران تدوین، و به منظور تجزیه و تحلیل اطلاعات و نمونه ها سعی گردیده تا از کاربردی ترین روش های نوین دستگاهی استفاده گردد. در مطالعه حاضر، ابتدا مجموعه ای از فرش های تاریخی دوران صفویه که در موزه های کشور ایران در دسترس بوده اند مورد بررسی قرار گرفته است. سپس با توجه به فراوانی استفاده از فام های مختلف در این تحقیق، یکی از پرمصرف ترین فام ها تجزیه و تحلیل شده است. هرچند که به دلیل محدودیت دسترسی به نمونه های متعدد، مطالعه اخیر نمی تواند مبنای تعمیم یافته ای از یافته ها را در اختیار قرار دهند، لیکن رویکرد تحقیقی در مطالعه اخیر می تواند مبنای مطالعات آتی را فراهم نماید. در بررسی نمونه های دریافتی یک نمونه ازفام قرمز یک فرش دوره صفویه از موزه فرش ایران مورد مطالعه قرار گرفته است.بررسی ها نشان داد که نمونه مورد مطالعه حاوی مقادیر قابل ملاحظه ای از انواع ناخالصی های فلزی است که توانسته فام اولیه را چندین برابر حد رواداری تغییر دهد. در شناسایی نوع رنگینه از طیف سنجی مادون قرمز و در شناسایی عناصر فلزی روش آنالیز عنصری مورد استفاده قرار گرفته است. میزان حساسیت رنگیـنه نسبت به عنـاصر فلزی مشاهده شده با استفاده از سیستم cie-lab اندازه گیری شده است. مطالعه اخیر می کوشد تا با استفاده از مقادیر هر چند کوچک ، اطلاعات دقیق تری از مواد اولیه و نیز فام اولیه نمونه ارائه شده و محدوده تغییرات فام آنرا تحت تأثیر عناصر فلزی مختلف مشخص نماید. بدیهی است تعدد نمونه ها و مطالعات مشابه خواهد توانست تصویر دقیق تری از کلیه فام های مصرفی در فرش های دوران صفویه ارائه کند. کلید واژه های تحقیق : فرش صفویه ، فام ، رنگ سنجی ، cie- lab, ft-ir , icp