یکی از کاربردهای بازتاب سنجی نوترونی تعیین نوع و ضخامت لایه ها می باشد. امروزه برای تعیین نوع و ضخامت لایه های مغناطیسی با ابعاد نانومتر از بازتاب نوترونهای قطبیده از لایه های مغناطیسی استفاده می شود که تغییر راستای میدان مغناطیسی داخلی در این لایه ها باعث ایجاد حالت خاصی در بازتابندگی به نام بازتابندگی اسپین-چرخشی می شود که در آن اسپین نوترون پس از بازتاب تغییر می کند. در این پایان نامه با استفاده از برنامه ی محاسباتی فرترن (fortran)، بازتابندگی های اسپین-چرخشی و در حالت عدم چرخش اسپین نوترون های قطبیده را از نانولایه های مغناطیسی شبیه سازی کرده و اثرات چرخش راستای میدان را بر روی این بازتابندگی ها به خصوص بازتابندگی اسپین-چرخشی بررسی کرده ایم. در ادامه به دلیل اینکه مرز بین لایه ها در نمونه های واقعی کاملا مجزا و مشخص نیست و بر اساس روش ساخت فیلم های نازک به دو صورت نرم و زبر می باشند و همچنین نوع مرز بین لایه ها بر روی بازتاب نوترون و قطبش آن تاثیر می گذارد، اثرات نرمی بین سطوح با استفاده از تابع اکارت به عنوان تابع توصیف کننده ی نرمی پتانسیل بین سطوح بر روی بازتاب و قطبش نوترونهای بازتابیده مخصوصا حالت خاص اسپین-چرخشی مورد بررسی قرار گرفته است.