در این پروژه یک روش اسپکتروفتومتری سریع، ساده با گزینش پذیری بالا برای اندازه گیری پالادیم پیشنهاد شده است. پالادیم در محیط اسیدی و در حضور سدیم دو دسیل سولفات(sds) به عنوان عامل مایسلی کننده با tan کمپلکسی تشکیل می دهد که ماکزیمم جذب این کمپلکس در طول مو ج های 724 و 662 نانومتر می باشد. دامنه خطی غلظت در 724 و 662 نانومتر به ترتیب 00/6-100/0 و 00/6-120/0 میکروگرم بر میلی لیتر پالادیم می باشد. همچنین حدتشخیص روش به ترتیب 024/0 و 023/0 میکروگرم بر میلی لیتر می باشد. نتایج نشان می دهد بیشتر یون ها در غلظت های بالا مزاحمتی ایجاد نمی کنند. انحراف استاندارد نسبی برای 6 اندازه گیری تکراری غلظت های 50/1، 00/3، 00/5 میکروگرم بر میلی لیتر پالادیم در 724 و 662 نانومتر به ترتیب %58/1، %32/1، %63/1 و %999/0، %760/0، %03/1 بدست آمد. قابلیت روش در آنالیز نمونه های حقیقی با اندازه گیری پالادیم در نمونه آب شهر و آلیاژهای سنتزی ارزیابی شده است. : در این پروژه یک روش اسپکتروفتومتری ساده، حساس با گزینش پذیری بالا به منظور تعیین همزمان پالادیم(ii) و مس(ii) با استفاده از روش افزایش استاندارد نقطه–اچ ارائه می شود. این روش بر اساس تشکیل کمپلکس بین پالادیم(ii) و مس(ii) با لیگاند 1-(2-تیازولیل آزو) -2-نفتل در محیط مایسلی سدیم دو دسیل سولفات((sds می باشد. دامنه خطی غلظت برای پالادیم 00/6-100/0 میکروگرم بر میلی لیتر و برای مس 40/3-040/0 میکروگرم بر میلی لیتر می باشد. نتایج کاربرد روش افزایش استاندارد نقطه –اچ نشان می دهد که می توان بطور همزمان پالادیم(ii) و مس(ii) را تعیین مقدار نمود در حالی که نسبت غلظتی پالادیم(ii) به مس(ii) از 7 به 1 تا 1به 5 تغییر می کند. روش پیشنهاد شده برای تعیین همزمان پالادیم(ii) و مس(ii) در چندین نمونه آلیاژ و آب به طور موفقیت آمیزی به کار برده شده است.