امروزه با پیشرفت تکنولوژی ساخت مدارات مجتمع دیجیتال، بشر هر روز موفق به ساخت مداراتی پیچیده تر و سریعتر از قبل می گردد. با بزرگ شدن این مدارات، احتمال بروز خطا در قسمتهای مختلف مدار بیشتر می شود. پروسه پیدا کردن خطاهای این مدارات که به تست مدارات دیجیتال مشهور شده، با وجود مداراتی بسیار بزرگ، ممکن است خیلی وقتگیر باشد. الگوریتم های مربوط به این راه حلها به مدارات در سطح گیت اعمال می شوند و با تولید الگوهای تست و اعمال این الگوها به مدار، آنرا تست می کنند. از طرف دیگر، امروزه با وجود ابزار کد در امر طراحی و پیاده سازی مدارات تحولات شگرفی روی داده است. از جمله این تحولات زبان های سخت افزاری است که با کمک آنها می توان یک مدار را در سطح رفتاری مدل نموده و سپس با استفاده از ابزار سنتز، آن را به سطح گیت تبدیل کرد. بنابراین در طرحهای امروزی، هم مدار در سطح رفتاری در دست طراحان است و هم مدار در سطح گیت. موضوع این پایان نامه، استفاده از اطلاعات سطح رفتاری مدار، برای ترسیع تولید الگوهای تست در مدار می باشد. کاری که در این پایان نامه انجام شده، این است که با تغییراتی در سطح رفتاری یک مدار، به آن قابلیتهای تست داده و در قسمتهایی از مدار که احتیاجی به اطلاعات دقیق سطح گیت ندارد، از این قسمتها استفاده می شود. لازمه استفاده از این طرح داشتن مدارات ماجولار است که با توجه به پیچیده شدن مدارات و اینکه هر قسمت یک مدار را افرادی جداگانه طراحی می کنند، اکثر طراحی های امروزی ماجولار است. فرق این روش با بقیه روشهایی که در این زمینه ارائه شده، این است که در این روش به مدل خطای جدید نیازی نیست (از همان مدل سنتی چسبندگی ساده استفاده می شود) و همچنین با استفاده از قسمت رفتاری، دقت تولید الگوی تست از بین نمی رود.