با افزایش فرکانس کاری پردازنده های جدید در حد گیگا هرتز، استفاده از آزماینده های خارجی برای آزمون همزمان چنین پردازنده های سریعی به مرور سخت تر و در مواردی غیر علمی می شود. این مساله ناشی از این واقعیت است که بهبود فرکانس کاری آزماینده های خارجی همگام با پیشرفت فرکانس کاری پردازنده ها صورت نمی گیرد. لذا افزودن قابلیت خود آزمایی به پردازنده که امکان آزمون در سرعت عادی کار مدار را فراهم می آورد.روش مناسبی برای آزمودن پردازنده های سریع به نظر می رسد. روشهای خودآزمایی ممکن است سخت افزاری یا نرم افزاری باشند. در روشهای خودآزمایی سخت افزاری با افزودن سخت افزار به مدار تولید بردارهای آزمون و تحلیل نتایج روی خود تراشه انجام می شود. تکنیک های سنتی خودآزمایی سخت افزاری مانند روشهای آزمون توکار خودآزما مبتنی بر پویش که جز تکنیکهای طراحی با ملاحظات آزمون ‏‎dft‎‏ به شمار آورده می شوند، محدودیت هایی را از چندجنبه ایجاد می کنند. از جمله این محدودیت ها می توان به بالا سری مساحت ناشی از سخت افزار اضافی آزمون، تنزل کارایی ناشی از افزودن سخت افزار آزمون در مسیرهای بحرانی مدار و مصرف توان غیرعادی به خاطر بردارهای آزمون غیر عملکردی یا نامعتبر اشاره نمود.با توجه به کاستی ها، روشهای خودآزمایی نرم افزاری راه حل مناسبی برای آزمون پردازنده ها به نظر می رسند. در این روشها تولید آزمون ، بررسی و تحلیل پاسخ ها و حتی تشخیص روی خود تراشه به کمک مجموعه دستورالعملهای پردازنده صورت می گیرد. تهیه برنامه خودآزمایی نرم افزاری و یا به عبارت ساده تر آماده سازی دنباله ای از دستورالعمل های پردازنده با پارامترهای داده ای مناسب به گونه ای که پوشش خطای ساختاری بالایی را فراهم نماید، موضوع اصلی این پایان نامه است .روشهای ارائه شده برای تهیه برنامه آزمون محدوده وسیعی از روشها شامل روشهای تولید بردارهای آزمون تصادفی و قطعی را می پوشاند. بسته به اینکه چه میزان اطلاعات از ساختار پردازنده در دسترس باشد ، روشهای مختلفی ارائه گردیده است.