این پروژه اختصاص به تحقیق روی لایه های حساس به نور(فتورسپتورها) که در الکتروفتوگرافی مورد استفاده قرار می گیرند، دارد. مهمترین مشخصه فیزیکی این لایه ها که در این پروژه به آن پرداخته شده، منحنی های دشارژ فتوالقایی این لایه ها می باشد، که تعیین کننده این است ، که آیا یک لایه قابلیت استفاده در زیروگرافی را دارد، یا خیر؟ به این منظور و برای بدست آوردن این منحنی ها، نیاز به دستگاهی است ، که با استفاده از آن بتوان همانند یک دستگاه زیروگرافی واقعی، لایه ها را شارژ و دشارژ کرده و با استفاده از آن تغییرات پتانسیل سطح این لایه ها را در هنگام دشارژ اندازه گیری و ثبت نمود. لایه های فتورسپتوری بطورکلی به دو دسته فتورسپتورهای آلی و فتورسپتورهای غیرآلی تقسیم بندی می شوند. که در این پروژه به ساخت و بررسی نمونه هایی از فتورسپتورهای غیرآلی سلنیومی پرداخته شده است . این گونه لایه ها که به روش تبخیر در خلاء ساخته می شوند، شامل زیرلایه ای از آلومینیوم م باشند که بوسیله لایه بسیار نازکی از اکسیدآلومینیوم پوشیده شده است و لایه سلنیومی روی لایه اکسیدی رشد داده می شود. مطلب مهم در مورد ساخت این لایه ها، ضخامت لایه اکسیدی و دمای زیرلایه هنگام رشد لایه سلنیومی است ، که این مطلب در مورد لایه های ساخته شده با شرایط مختلف ، مورد تحقیق و بررسی قرار گرفته است .

در این پایان نامه بعد از معرفی میکروسکوپهای stm و afm چگونگی کارکرد آنها مورد بررسی قرار گرفته است . زیگنالهای دریافتی از نوک میکروسکوپ stm بعد از تبدیل d to a به عنوان داده های ابتدایی مورد پردازش قرار گرفته و روشهایی برای بهبود تصاویر به دست آمده است و همینطور چگونگی دریافت اطلاعات مورد نظر از تصاویر در اثر پردازش بحث شده است . در انتها نیز طراحی نرم افزاری با فرض در اختیار داشتن برخی پارامترها از کامپیوتر ارائه شده است که با ثابت فرض کردن حجم یک اتم در یک تقریب دو بعدی با تغییر ارتفاع و نیم پهنای اتم برای جداسازی دو اتم همپوشانی شده بکار می رود.