الکتروانباشت یکی از ساده¬ترین، انعطاف¬پذیرترین و کم¬هزینه¬ترین روش¬های لایه¬نشانی نسبت به سایر روش¬های موجود بر پایه¬ی تکنیک خلأ می¬باشد که امکان رشد تک لایه¬ای¬ها، چندلایه¬ای¬ها و لایه¬های آلیاژی مغناطیسی را در شرایط طبیعی دما و فشار فراهم می¬کند. در این پروژه لایه¬های نازک ag،co و آلیاژیag-co بر روی زیرلایه¬های فلزی مس و au2pdag/glass،به روش الکتروانباشت با ¬درصدهای مختلف کبالت درمد کرنوکولومتری (chc)تحت پتانسیل ثابت در الکترولیت تک حمام انباشت شدند. با استفاده از ولتامتری چرخه¬ای (cv) ولتاژ شروع انباشت لایه¬های آلیاژی مشخص شد. در ادامه بس لایه¬ای¬های ag/co با ضخامت¬های متفاوت لایه¬های نقره بر زیر لایه¬های ورقه¬ای و فویل مسی و au2pdag/glass رسوب داده شد و تأثیر این تغییر ضخامت بر خواص مغناطیسی و مورفولوژی سطحی لایه¬ها مورد بررسی قرار گرفت. در این کار با استفاده از دستگاه پراش پرتو ایکس (xrd)و میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) ساختار و مورفولوژی فیلم¬های ag-co مورد بررسی قرار گرفته و آنالیزتفکیک انرژی پرتو ایکس(edx) درصد وزنی و اتمی عناصر موجود در لایه¬های انباشتی را تعیین کرده است. همچنین خواص مغناطیسی لایه¬های آلیاژی و چندلایه¬ای¬های ag/co بر روی زیرلایه¬های au2pdag/glass، توسط دستگاه مغناطوسنج نیروی متناوب(agfm) مورد مطالعه قرارگرفته است.