نانوپودرهای تلوراید کادمیم به روش هیدروترمال، در دماهای مختلف و زمان واکنش متفاوت سنتز شدند. نمونه های آماده شده با استفاده از پراش پرتو ایکس (xrd)، میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem)، طیف آنالیز eds و طیف سنجی مرئی-فرابنفش پخشی (uv-vis dr) مشخصه یابی گردیدند. طرح پراش پرتو ایکس نشان می دهد که فازهای ثانویه در نمونه سنتز شده در دمای 180 درجه سانتی گراد و زمان واکنش 80 ساعت تقریبا ناپدید می شوند. تص...

در این پژوهش، میله‏های هرمی شش گوشی اکسید روی نانوساختار با کیفیت ساختاری و اپتیکی بالا از طریق یک روش ساده مبتنی بر نشست بخار شیمیایی پودر zn بدون استفاده از هیچ کاتالیست فلزی، رشد داده شدند. ریخت‏شناسی سطح نمونه‏ها با استفاده از تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) مشخص گردید. نتایج حاصل از آنالیز xrd نشان داد میله های هرمی اکسید روی دارای ساختار ورتزایت با قله ترجیحی قوی (002) می‏باشد. بررس...

در این پایان نامه لایه های ستونی و مورب سولفید روی با روش تبخیر حرارتی در خلاء تهیه گردید وخواص ساختاری و اپتیکی آن به وسیله آنالیزهای fesem و afm و پراش پرتو ایکس و طیف سنجی مورد بررسی قرار گرفت. ثابت شبکه و ساختار بلوری از آنالیز پراش پرتو ایکس و زاویه شیب ستونها نسبت به خط عمود بر زیرلایه و ضخامت لایه ها از آنالیز fesem بررسی شدند. زبری سنجی و ریخت شناسی و تخلخل لایه ها نیز به وسیله آنالیز a...

در این پژوهش، لایه های نازک اکسید روی با ضخامت های متفاوت بین 46 تا 317 نانومتر بر روی زیرلایه شیشه به روش اسپری لایه نشانی شده اند. موفولوژی و میزان زبری سطح لایه ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی ( sem ) و میکروسکوپ نیروی اتمی ( afm ) اندازه گیری شده اند. تصاویر afm و sem لایه ها نشان می دهند که در روند رشد و زبری لایه ها با افزایش ضخامت، دو حالت متفاوت رشد مشاهده می شود. نخست با افزا...

    در این پژوهش، لایه های نازک اکسید روی با ضخامت های متفاوت بین 46 تا 317 نانومتر بر روی زیرلایه شیشه به روش اسپری لایه نشانی شده اند. موفولوژی و میزان زبری سطح لایه ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی ( SEM ) و میکروسکوپ نیروی اتمی ( AFM ) اندازه‌گیری شده اند. تصاویر AFM و SEM لایه‌ها نشان می‌دهند که در روند رشد و زبری لایه‌ها با افزایش ضخامت، دو حالت متفاوت رشد مشاهده می شود. نخست با ...

ضریب شکست نور یکی از ثوابت مهم در طراحی لایه‌های نازک اپتیکی است و بسته به ضخامت،  دانسیته لایه، شبکه کریستالی و عیوب داخلی تغییر می‌کند. امواج الکترومغناطیسی تابشی بر روی سطح لایه به تناسب ضریب شکست در مقادیر مختلف، جذب، منعکس و یا عبور می‌کند و مقداری از آن نیز بدلیل معایب سطحی و داخلی لایه پراکنده می‌شود. لایه‌های نازک سیلیکا بصورت منفرد و یا در ترکیب با سایر اکسیدها در تولید خواص اپتیکی کار...

یکی از عوامل اصلی عدم قطعیت در تخمین تابش موج‌کوتاه در سطح، عمق اپتیکی هواویز موجود در جو می باشد. در این مقاله برای محاسبه تابش موج کوتاه از مدل پارامتری یانگ که هر یک از اجزای جو را بصورت جداگانه مدل می‌نماید، استفاده شد. در اکثر تحقیقات قبلی برای محاسبه تابش موج کوتاه در سطح، از داده‌های عمق اپتیکی هواویز سنجنده مادیس استفاده شده است، درحالی‌که در این تحقیق عمق اپتیکی برآورد شده از الگوریتم ...

برای بررسی فرآیندهایی که در سلول‌های خورشیدی رخ می‌دهند، مدل‌های اپتیکی و الکتریکی بسیاری مورد استفاده قرار می‌گیرند. در این مقاله، شبیه‌سازی اپتیکی سلول خورشیدی پروسکایتی بر اساس فرمولبندی ماتریس انتقال با استفاده از ضرایب شکست مختلط تابع طول موج ساختار چندلایه‌ای ارائه شده‌است. به‌عبارتی برای سلول خورشیدی پروسکایتی با انتقال دهنده‌های الکترون متفاوت، خواص اپتیکی از جمله جذب اپتیکی، انرژی اتلا...

شیشه سرامیک های شفاف سیستم las را اصطلاحا شیشه سرامیک های اپتیکی دقیق می نامند که در کاربردهایی نظیر فوتونیک، لیزرهای حالت جامد، تقویت کننده های نوری و غیره استفاده می شوند. هدف از این پژوهش، بهینه سازی شرایط تبلور این نوع شیشه سرامیک ها در حضور آلاینده ی nd2o3 می باشد. بدین منظور، آنالیز حرارتی افتراقی(dta) برای بررسی رفتار حرارتی و تعیین دماهای تبلور، آنالیز پراش اشعه ی x برای بررسی بلورهای ا...

مقدمه: در این مقاله برای بهینه سازی اسکنر سی تی لیزری که به منظور دوزیمتری ژل معادل بافت به کار می­رود، ساختار اپتیکی جدیدی پیشنهاد شده­است.   روش بررسی: روند کار براساس به کارگیری یک دیود لیزری به عنوان منبع نور و سه چیدمان پیاپی اپتیکی با هدف هدایت بهینۀ پرتوی اپتیکی جهت بازخوانی دقیق ژل معادل بافت مبتلا به تومور بنا شده­است. تا به امروز، روش تصویربرداری تشدید پارامغناطیس ( mri ) به صورت گستر...