Exploitation of Contrasts in Low Energy SEM to Reveal True Microstructure
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
Exploitation of Contrasts in Low Energy SEM to Reveal True Microstructure
We have developed a Scanning Low Energy Electron Microscope (SLEEM) based on the Cathode Lens (CL) principle [1]. A resolution of 4.5 nm at 20 eV, 0.8 nm at 200 eV and 0.5 nm at 15 keV primary beam energy can nowadays be obtained in a commercially available instrument [2]. One of the main advantages of operation at low energies is the decrease in the interaction volume from approximately 1 μιη ...
متن کاملthe role of russia in transmission of energy from central asia and caucuses to european union
پس ازفروپاشی شوروی،رشد منابع نفت و گاز، آسیای میانه و قفقاز را در یک بازی ژئوپلتیکی انرژی قرار داده است. با در نظر گرفتن این منابع هیدروکربنی، این منطقه به یک میدانجنگ و رقابت تجاری برای بازی های ژئوپلتیکی قدرت های بزرگ جهانی تبدیل شده است. روسیه منطقه را به عنوان حیات خلوت خود تلقی نموده و علاقمند به حفظ حضورش می باشد تا همانند گذشته گاز طبیعی را به وسیله خط لوله مرکزی دریافت و به عنوان یک واس...
15 صفحه اولStatistical power with respect to true sample and true population paths: a PLS-based SEM illustration
Monte Carlo experiments aimed at assessing the statistical power of structural equation modeling (SEM) techniques typically focus on true population path coefficients, ignoring true sample path coefficients. We demonstrate the limitations stemming from such practice in statistical power assessments. This is done in the context of SEM techniques employing the partial least squares (PLS) method, ...
متن کاملFIB Induced Damage Examined with the Low Energy SEM
The surface morphology of pure Mg was studied by means of the cathode lens mode equipped scanning low energy electron microscope after bombarding with Gaþ ions at various energies (10, 20, 30, and 40 keV) and incident angles (0 , 30 , 45 , and 60 ). In accordance with the Bradley-Harper theory at off-normal angles of incidence ripples were observed on the irradiated areas. The Monte Carlo progr...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Microscopy and Microanalysis
سال: 2014
ISSN: 1431-9276,1435-8115
DOI: 10.1017/s1431927614006011