Goodness-of-fit tests for complete spatial randomness based on Minkowski functionals of binary images

نویسندگان
چکیده

برای دانلود رایگان متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

On the Canonical-Based Goodness-of-fit Tests for Multivariate Skew-Normality

It is well-known that the skew-normal distribution can provide an alternative model to the normal distribution for analyzing asymmetric data. The aim of this paper is to propose two goodness-of-fit tests for assessing whether a sample comes from a multivariate skew-normal (MSN) distribution. We address the problem of multivariate skew-normality goodness-of-fit based on the empirical Laplace tra...

متن کامل

The Comparison Between Goodness of Fit Tests for Copula

‎Copula functions as a model can show the relationship between variables‎. ‎Appropriate copula function for a specific application is a function that shows the dependency between data in a best way‎. ‎Goodness of fit tests theoretically are the best way in selection of copula function‎. ‎Different ways of goodness of fit for copula exist‎. ‎In this paper we will examine the goodness of fit test...

متن کامل

An Updated Review of Goodness of Fit Tests Based on Entropy

Different approaches to goodness of fit (GOF) testing are proposed. This survey intends to present the developments on Goodness of Fit based on entropy during the last 50 years, from the very first origins until the most recent advances for different data and models. Goodness of fit tests based on Shannon entropy was started by Vasicek in 1976 and were continued by many authors. In this paper, ...

متن کامل

application of upfc based on svpwm for power quality improvement

در سالهای اخیر،اختلالات کیفیت توان مهمترین موضوع می باشد که محققان زیادی را برای پیدا کردن راه حلی برای حل آن علاقه مند ساخته است.امروزه کیفیت توان در سیستم قدرت برای مراکز صنعتی،تجاری وکاربردهای بیمارستانی مسئله مهمی می باشد.مشکل ولتاژمثل شرایط افت ولتاژواضافه جریان ناشی از اتصال کوتاه مدار یا وقوع خطا در سیستم بیشتر مورد توجه می باشد. برای مطالعه افت ولتاژ واضافه جریان،محققان زیادی کار کرده ...

15 صفحه اول

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: Electronic Journal of Statistics

سال: 2018

ISSN: 1935-7524

DOI: 10.1214/18-ejs1467