Impedance modeling and analysis of multi-stacked on-chip power distribution network in 3D ICs
نویسندگان
چکیده
An accurate impedance modeling of a multi-stacked on-chip power distributed network (PDN) based on through-silicon-vias (TSVs) is vitally important to estimate the electrical performance in three-dimensional integrated circuits (3D ICs). This paper proposes method for calculating matrix PDN, which mainly consists arbitrarily TSVs and grid-type PDNs. First, real stack-up structure PDN separated into discrete components intentionally. Then, equivalent lumped circuit models all are assembled whole build transmission through relationship between nodal voltage current. Finally, can be derived matrix. In this paper, coupling distributional effect considered (TMM). The proposed replaces simulation complex model with calculation. verification results show that deviation resonant frequency about 6 $$\%$$ conversation time 99.9 compared HFSS model. It accurately quickly calculate PDN.
منابع مشابه
analysis of power in the network society
اندیشمندان و صاحب نظران علوم اجتماعی بر این باورند که مرحله تازه ای در تاریخ جوامع بشری اغاز شده است. ویژگیهای این جامعه نو را می توان پدیده هایی از جمله اقتصاد اطلاعاتی جهانی ، هندسه متغیر شبکه ای، فرهنگ مجاز واقعی ، توسعه حیرت انگیز فناوری های دیجیتال، خدمات پیوسته و نیز فشردگی زمان و مکان برشمرد. از سوی دیگر قدرت به عنوان موضوع اصلی علم سیاست جایگاه مهمی در روابط انسانی دارد، قدرت و بازتولید...
15 صفحه اولTransient Modeling of Electromigration and Lifetime Analysis of Power Distribution Network for 3D ICs
In this paper, we present a transient modeling of electromigration (EM) in TSV and TSV-to-wire interfaces in the power delivery network (PDN) of 3D ICs. In particular, we model atomic depletion and accumulation, effective resistance degradation, and full chip-scale PDN lifetime degradation due to EM. Our major focuses are on: (1) timedependent multi-physics EM modeling approach to model TSVs an...
متن کاملTest-Architecture Optimization for 3D Stacked ICs
TSV-based 3D-SICs significantly impact core-based systemon-chip (SOC) design. Testing of core-based dies in 3D-SICs introduces new challenges [1], [2]. In order to test the dies in a stack, the embedded cores, and the TSVs, a test access mechanism (TAM) must be included on the die to transport test data to the cores, and a 3D TAM is needed to transfer test data to the die from the stack input/o...
متن کامل3D-COSTAR: A Cost Model for 3D Stacked ICs
Selecting appropriate and efficient test flow for a 3D Stacked IC (3D-SIC) is crucial for overall cost optimization. This paper presents 3D-COSTAR, a tool that considers costs involved in the whole 3D-SIC chain, including design, manufacturing, test, packaging and logistics (e.g. related to shipping wafers between a foundry and a test house); and provides the estimated overall cost and cost bre...
متن کاملa study of relationship between knowledge sharing and organizational agility among personnel in esfahan power electric distribution company
پژوهش حاضر به بررسی رابطه بین تسهیم دانش و چابکی سازمانی در شرکت توزیع برق استان اصفهان پرداخته است . ابزار سنجش در این پژوهش پرسشنامه می باشد . به منظور سنجش متغیر تسهیم دانش از پرسشنامه وانگ و وانگ و جهت سنجش چابکی سازمانی از پرسشنامه چاربونیر استفاده شده است . هدف پژوهش حاضر تحلیل رابطه میان تسهیم دانش و چابکی سازمانی از دید کارکنان شرکت توزیع برق استان اصفهان می باشد . جامعه آماری این پژوه...
15 صفحه اولذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Journal of Computational Electronics
سال: 2022
ISSN: ['1572-8137', '1569-8025']
DOI: https://doi.org/10.1007/s10825-022-01947-0