تعیین دقت ثبت ایمپلنت و جزئیات سطحی با استفاده از پلی اتر و پلی وینیل سایلوکسان با روش تری بسته

زمینه و هدف: تهیه قالب های دقیق از دندان های تراش خورده، در شرایطی که در مجاور ایمپلنت های دندانی هستند، حائز اهمیت است. در این شرایط، عدم توجه در انتخاب ماده و روش قالب گیری مناسب، نه تنها می تواند در انتقال موقعیت سه بعدی ایمپلنت تأثیرگذار باشد، بلکه ثبت دقیق دندان را نیز می تواند به مخاطره بیاندازد. در تحقیق حاضر دقت دو ماده قالب گیری با استفاده از ترانسفر قالب گیری مخروطی در ثبت موقعیت ایمپلنت و جزئیات سطح بررسی شد.   روش بررسی: یک مدل مرجع فلزی دارای 2 ایمپلنت (implantium) به همراه تراش سه شیار بر سطح یک دندان طبق استاندارد شماره 19 ada ، ساخته شد. 10 قالب پلی اتر (pe) با قوام متوسط با تری اختصاصی و 10 قالب پوتی واش پلی وینیل سایلوکسان (pvs) با تری پیش ساخته با استفاده از ترانسفرهای قالب گیری مخروطی تهیه شد. قالب ها با گچ ada نوع 4 ریخته شد. دقت قالب گیری به وسیله ارزیابی جابه جایی سر آنالوگ ایمپلنت ها در محورهای x و y و جابه جایی زاویه ای، با استفاده از coordinate measuring machine (cmm) و نیز دقت بازسازی شیارها با استفاده از video measuring machine (vmm) اندازه گیری شد. این اندازه گیری ها با مقادیر حاصل از مدل مرجع مقایسه شد. داده ها توسط آنالیز one-way anova و t-test آنالیز شد.   یافته ها: پوتی واش pvs جابه جایی خطی کمتری نسبت به مدل مرجع داشت (001/0> p ). اختلاف معنی داری در بازسازی جزئیات سطحی وجود نداشت (15/0= p ).   نتیجه گیری: پوتی واش pvs جابه جایی خطی کمتری نسبت به pe با قوام متوسط داشت. تفاوت معنی داری ازنظر بازسازی جزئیات سطحی بین دو ماده قالب گیری، وجود نداشت.