نتایج جستجو برای: ترانزیستورهای ldmos

تعداد نتایج: 449  

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه مازندران - دانشکده علوم پایه 1392

در سال های اخیر ضخامت گیت دی الکتریک اکسید سیلیکون در تکنولوژی مکمل فلز- اکسید- نیمه رسانا (cmos)، به کم تر از 2 نانومتر رسیده است. مسائلی هم چون افزایش تونل زنی کوانتومی، افزایش جریان نشتی و نفوذ اتم بور از گیت دی الکتریک فرا نازک اکسید سیلیکون از نگرانی های عمده برای کاهش ضخامت گیت دی الکتریک می باشند. بنابراین باید به دنبال جایگزینی برای گیت دی الکتریک اکسید سیلیکون باشیم. اخیرا مواد کامپوزی...

Journal: :IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 2021

This work presents a new artificial neural network (ANN) model formulation for RF high-power transistors which includes the S-parameters of active device. improves small-signal extrapolation capability, and OFF-state impedance approximation, making it suitable Doherty power amplifier (DPA) design. capability plays key role in correct load modulation prediction, since, at low levels, peaking PA ...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه فردوسی مشهد - دانشکده مهندسی 1390

یکی از مهمترین پارامترهای نوسان ساز ها، نویز فاز می باشد. نویز فاز نوسان ساز در میکسر سبب تداخل باندهای فرکانسی داده های ورودی می شود. نویز فاز را در سیستم های دیجیتال جیتر نیز می گویند. در واقع جیتر معادل حوزه زمانی نویز فاز می باشد. جیتر در سیستم های دیجیتال سبب می شود که داده ها در لحظه صحیحی از زمان نمونه برداری نشوند. بنابراین شناخت نویز فاز و مدل سازی ریاضی آن از اهمیت ویژه ای برخوردار اس...

2012
Anthony D. Sagneri David I. Anderson David J. Perreault

This document presents a method to optimize integrated LDMOS (Lateral Double-Diffused MOSFET) transistors for use in very high frequency (VHF, 30-300 MHz) dc-dc converters. A transistor model valid at VHF switching frequencies is developed. Device parameters are related to layout geometry and the resulting layout vs. loss tradeoffs are illustrated. A method of finding an optimal layout for a gi...

Journal: :Microelectronics Reliability 2007
M. A. Belaïd K. Ketata M. Gares Karine Mourgues Mohamed Masmoudi Jérôme Marcon

This paper presents the results of comparative reliability study of C–V characteristics through three accelerated ageing tests for stress applied to an RF LDMOS: Thermal shock tests (TST, air–air test), thermal cycling tests (TCT, air–air test) and high temperature storage life (HTSL). The two first tests are carried out with a drain current flowing through the device during stress. The investi...

Journal: :IEICE Electronics Express 2023

Based on the self-developed standard process RF-LDMOS device, a new ultra-wideband RF power amplifier is designed in this letter. The removes absorbing resistor and capacitor series structure at end of drain. stability circuit enhanced by pre-matching circuit. Considering small impedance value high-power it difficult to achieve broadband matching. novel tapering drain transmission has been deve...

با توجه به افزایش چشمگیر حجم داده‌های پردازشی و نیاز به سرعت بیشتر در پردازش آنها، به استفاده از روش‌های نوین در طراحی مدارهای دیجیتال توجه شده است. نظر به اهمیت مصرف توان در وسایل الکترونیکی، طراحی مدارهایی ضروری است که به کاهش مصرف توان، مساحت و نیز افزایش سرعت پردازنده‌ها منجر شود. استفاده از محاسبات تقریبی در کنار ترانزیستورهای نانولولۀ کربنی، یکی از روش‌های مطرح‌شده در این حوزه است. با توج...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه مازندران - دانشکده علوم پایه 1389

با استفاده از روش سل ژل و بررسی xrdنتایج زیر بدست آمد: ? از این مقایسه و مقایسه نمونه های سری ششم و هفتم و دهم، نتیجه می گیریم که اگرچه وجود اتانول در نمونه هنگام بازپخت شدت را افزایش داده که بیانگر بلوری شدن بیشتراست اما باعث افزایش اندازه ذره شده است که مطلوب ما نیست. درمورد استن و آب نظر قطعی نمی توان داد چون نمونه های دیگری از این دست نداریم. ? زمان خشک کردن نمونه سری اول بیشتر بقیه بود...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید