در این پایان نامه روش بیضی سنجی معرفی می شود که در آن از یک تاخیر انداز به نام تیغه بابینه جهت اندازه گیری پارامترهای بیضی قطبش استفاده می کند .با تحلیل تداخل مولفه های نور بیضوی در عبور از تیغه بابینه و همچنین یافتن ارتباط بین موقعیت مکانی فریزها و ضخامت تیغه ، فرمول بندی مربوطه صورت می گیرد . سپس به صورت تجربی با اندازه گیری میزان جابه جایی منحنی توزیع شدت بر حسب ضخامت که با اضافه کردن یک قطب...

امروزه، دانستن ثابتهای اپتیکی مواد در صنعت الکترونیک بسیار ضروری است، یکی از روشهای مرسوم برای تعیین این ثابتها، بیضی سنجی است. به کمک یک دو شکافی خاص، دو شکافی قطبی، که امتداد قطبیدگی باریکه های نور خروجی از شکافهای آن بر هم عمودند، بیضی سنجی ساختیم که در عین سادگی کار با آن و دقت مطلوب آن، برخلاف شیوه های معمولی بیضی سنجی به تیغه های تاخیرانداز، نیاز ندارد.در این پایان نامه، طراحی و ساخت دستگ...

بیضی سنجی یک روش اپتیکی غیر مخرب و غیر تماسی برای مشخصه یابی سطوح مشترک و لایه های نازک است. این روش بر اساس تغییر قطبش نور به هنگام انعکاس از سطوح استوار است. با انجام بیضی سنجی های عددی و مقایسه آنها با داده های بیضی سنجی تجربی می توان مدل های فیزیکی مناسبی برای سطوح و لایه های نازک ارائه داد. هدف اصلی در این پایان نامه طراحی و اجرای یک کد رایانه ای برای انجام بیضی سنجی عددی از لایه های نازک ...

لایه های نازک سولفید روی به علت کاربردهایشان در وسایل اپتوالکترونیک مانند دیودها، نمایشگرهای صفحه تخت و پوشش های ضد بازتاب در فناوری های سلول های خورشیدی، بسیار مورد توجه قرار گرفته اند. از میان انواع روش های لایه نشانی سولفید روی، اسپری گرمایی به دلیل هزینه کم، سادگی، توانایی کنترل شدت لایه نشانی و تهیه لایه های یکنواخت و قابلیت لایه نشانی بر روی سطوح بزرگ، روشی کارآمد می باشد. در این تحقیق،...

چکیده در این پژوهش لایه های نازک باریم استرانسیم تیتانات (ba1-xsrxtio3) با استوکیومتری های 4/0، 3/0، 2/0، 1/0=x به روش سل-ژل تهیه شدند. برای تهیه سل 25/0 مولار، از نمک های فلزی باریم استات و استرانسیم استات، آلکوکسید فلزی تیتانیم تترا ایزوپروپوکساید با استوکیومتری مناسب، حلال های استیک اسید و 2-متوکسی اتانول و همین طور از استیل استون به عنوان پایدار کننده استفاده شد. لایه نشانی فیلم های bst با...

مفهوم تداخلسنجی نجومی توسط فیزو و مایکلسون در قرن نوزدهم ارائه شد. در حدود سالهای 1868 فیزو برای اولین بار استفاده از روش تداخل سنجی برای تعیین قطر زاویه ای ستارگان به کمک مشاهده ی فریز های تداخلی تولید شده از نور ستاره را پیشنهاد کرد. در سال 1890 مایکلسون مبانی ریاضی تداخل سنجی ستاره ای را توضیح داد و اولین اندازه گیری قطر زاویه ای ستارگان را انجام داد. اساس تداخل سنجی نوری در نجوم، ترکیب دو...

در این کار روشی خودکار برای اندازه­گیری صافی سطح قطعات نوری از طریق آزمایش­های تداخل سنجی ارائه شده است. ابتدا روابط موردنیاز برای توصیف چگونگی شکل­گیری نوارهای تداخلی در آزمایش­های صافی سطح به دست آمده­اند. با توجه به روابط به دست آمده و وصف چگونگی انحراف نوارهای تداخلی از حالت صاف به حالت انحنادار در صورت ناصاف بودن سطح قطعه، روش استاندارد اندازه­گیری صافی سطح مورد بررسی قرار گرفته است. در اد...

در این پروژه اثر دمای زیرلایه هنگام لایه نشانی روی ثابتهای اپتیکی لایه های نازک cu و ag در بازه طول موج(2600nm - 200 ) بررسی شده اند. در این پروژه از دو روش برای اندازه گیری ثابتهای اپتیکی نمونه ها استفاده شد. اولین روش ، روش کریمرز- کرونیگ است که با استفاده از داده های تجربی بازتابندگی تحت تابش عمودی در بازه پهنی از طول موج، ثابتهای اپتیکی اندازه گیری می شوند. دومین روش روش بیضی سنجی است . در ...

در این کار روشی خودکار برای اندازه­گیری صافی سطح قطعات نوری از طریق آزمایش­های تداخل سنجی ارائه شده است. ابتدا روابط موردنیاز برای توصیف چگونگی شکل­گیری نوارهای تداخلی در آزمایش­های صافی سطح به دست آمده­اند. با توجه به روابط به دست آمده و وصف چگونگی انحراف نوارهای تداخلی از حالت صاف به حالت انحنادار در صورت ناصاف بودن سطح قطعه، روش استاندارد اندازه­گیری صافی سطح مورد بررسی قرار گرفته است. در اد...

In this paper, we studied the optical behavior of SiO2 thin films prepared via sol-gel route using spin coating deposition from tetraethylorthosilicate (TEOS) as precursor. Thin films were annealed at different temperatures (400-600oC). Absorption edge and band gap of thin layers were measured using UV-Vis spectrophotometery. Optical refractive index and dielectric constant were measured by ell...