نتایج جستجو برای: مدارهای دیجیتال مقاوم در برابر خطای نرم

تعداد نتایج: 757674  

ژورنال: :محاسبات نرم 0
علی اصغر سعادت زاده کاشان، خ امیرکبیر، ک سید جمال الدین اسدآبادی، بن بست انقلاب 4، پلاک 35 حسین کریمیان علی داش کاشان، بلوار قطب راوندی، دانشگاه کاشان، دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر

اهمیت قابلیت اطمینان مدارها و خصوصاً اثر تششعات کیهانی و اشکالات ناشی از برخورد این ذرات به مدارات، با پیشرفت تکنولوژیِ ساخت مدارهای مجتمع و گذر از ابعاد میکرومتر به نانومتر به صورت چشمگیری افزایش یافته است. در این مقاله یک لچ استاتیک مقاوم در برابر خطای نرمِ ناشی از برخورد ذرات پرانرژی به سطح تراشه، جهت کاربرد در مدارهای با قابلیت اطمینان بالا معرفی می گردد. اساس روش پیشنهادی استفاده از فیدبک های...

ژورنال: :مهندسی برق دانشگاه تبریز 0
محمدامین ثابت سروستانی دانشگاه شهید باهنر کرمان - دانشکده فنی و مهندسی بهنام قوامی دانشگاه شهید باهنر کرمان - دانشکده فنی و مهندسی محسن راجی دانشگاه شیراز - دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر

یکی از مهم ترین چالش ها برای سیستم های دیجیتال در مقیاس نانو، کاهش قابلیت اطمینان ناشی از افزایش نرخ خطای نرم این سیستم ها می باشد. با رسیدن ابعاد تکنولوژی cmos به مقیاس نانو، نرخ خطای گذرای چندتایی ناشی از برخورد یک ذره پرانرژی به سطح تراشه ها بیش از نرخ خطای گذرای تک رخدادی خواهد بود. بنابراین، در فرآیند طراحی این سیستم ها، تکنیک های بهینه سازی باید به صورت آگاه از خطاهای گذرای چندتایی انتخاب...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه کاشان - دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر 1393

تحقیقات نشان می¬دهد اشکالات گذرا در سیستم¬های دیجیتال بسیار رایج بوده وغیر قابل اجتناب است. این اشکالات ممکن است توسط نوسانات منبع تغذیه، برخورد نوترون¬های ساطع¬شده از اشعه کیهانی و یا ذرات آلفا صورت گیرد. در این میان، برخورد ذرات پرانرژی ساطع¬شده از اشعه کیهانی برای سیستم¬های دیجیتال از اهمیتی ویژه برخوردار است. هنگامی که یک ذره پرانرژی به قسمت حساس یک قطعه نیمه¬هادی برخورد کند، کانال متراکمی ...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی اصفهان - دانشکده برق و کامپیوتر 1389

پیشرفت پیوسته تکنولوژی cmos و کوچک شدن ابعاد باعث افزایش تراکم و در نتیجه افزایش کارآیی مدارهای مجتمع دیجیتال شده است. این افزایش تراکم علاوه بر پیچیدگی طراحی، با افزایش توان مصرفی مدار و اثرات دیگری مثل افزایش جریان مصرفی، حرارت تولیده شده و کاهش میزان قابلیت اطمینان مدار همراه است. همچنین اثرات مرتبه دو همچون جریانهای نشتی نیز به صورت مولفه موثر در توان مصرفی ظاهر شده اند به گونه ای که در تکن...

یکی از مهم‌ترین چالش‌ها برای سیستم‌های دیجیتال در مقیاس نانو، کاهش قابلیت اطمینان ناشی از افزایش نرخ خطای نرم این سیستم‌ها می‌باشد. با رسیدن ابعاد تکنولوژی CMOS به مقیاس نانو، نرخ خطای گذرای چندتایی ناشی از برخورد یک ذره پرانرژی به سطح تراشه‌ها بیش از نرخ خطای گذرای تک‌رخدادی خواهد بود. بنابراین، در فرآیند طراحی این سیستم‌ها، تکنیک‌های بهینه‌سازی باید به صورت آگاه از خطاهای گذرای چندتایی انتخاب...

Journal: : 2023

به علت تغییرات حجم ناشی از خطای ساخت، فرکانس کاواک‌های شتاب‌دهی در شتاب‌دهنده‌های خطی الکترون تغییر می‌کند. نتیجه تنظیم فرکانسی کاواک‌ها یکی مراحل مهم تست سرد است که باید الزامات آن طراحی لحاظ شود. پروژه ساخت ساختار موج‌ایستا برای شتاب­دهنده با دو انرژی، پس طراحی، یک آلومینیمی (شامل نیم کاواک و تزویج) ساخته شد. این جبران پیچ‌های استفاده پیچ‌ها جزیی کاواک‌ها، آن‌ها را می‌دهند. مقاله محاسبات شبیه...

Journal: :Journal of Entomological Society of Iran 2023

وراثت مقاومت سفیدبالک گلخانه، Trialeurodes vaporariorum Westwood (Hemiptera: Aleyrodidae)، به دو ترکیب ایمیداکلوپرید و کلرپایریفوس مورد مطالعه قرار گرفت. در این پژوهش، از جمعیت فیلستان ورامین (FL) عنوان والد مقاوم فردیس کرج (FR) حساس استفاده شد. مقدار ترتیب حدودا 62/13 91/14 برابر بود. عدم وجود اختلاف معنی‌دار LC50 روی تلاقی‌های F1 (R♂×S♀) Fʹ1 (R♀×S♂) نشان داد که T. نوع اتوزومی (غیرجنسی) است. ه...

Journal: : 2021

هدف: هدف پژوهش حاضر بررسی ویژگی‌های روان سنجی مقیاس استرس آسیب‌زا کوید-19 بود که اثرات ویروس کرونا را بر جنبه‌های مختلف زندگی مردم ایران مورد قرار می‌دهد. روش:پژوهش توصیفی از نوع همبستگی بود. جامعۀ آماری شامل کلیۀ افرد بزرگسال شهر تهران در دامنۀ سنی 17 تا 72 سال 461 نفر طریق فراخوانی اینترنتی تحقیق شرکت کردند. برای تجزیه‌وتحلیل داده‌ها دو روی‌آورد کلاسیک و نظریۀ سؤال- پاسخ نرم­افزارهای Spss نسخ...

با توجه به افزایش چشمگیر حجم داده‌های پردازشی و نیاز به سرعت بیشتر در پردازش آنها، به استفاده از روش‌های نوین در طراحی مدارهای دیجیتال توجه شده است. نظر به اهمیت مصرف توان در وسایل الکترونیکی، طراحی مدارهایی ضروری است که به کاهش مصرف توان، مساحت و نیز افزایش سرعت پردازنده‌ها منجر شود. استفاده از محاسبات تقریبی در کنار ترانزیستورهای نانولولۀ کربنی، یکی از روش‌های مطرح‌شده در این حوزه است. با توج...

Journal: : 2023

در این مقاله، به بررسی اثر پارامترهای گوناگون بر شکل تپ‌های گسیلی لیزر 2CO تپی پرداخته شده است. راستا، عوامل مختلفی مانند: فشار گاز و هم‌­چنین طول تشدیدگر تغییر داده شدند هر حالت به‌همراه اندازه انرژی آن‌ها ثبت گردیدند. نتایج نشان می‌­دهد که با افزایش گاز، به‌شدت می‌یابد، به‌گونه‌ای 2 برابر 3 شدن فشار، 5 برابر، پهنای زمانی تپ‌ها نیم یک‌سوم زمان برساخت آن‌­ها نیز 9/0 7/0 اندازه‌های اولیه‌ی خود م...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید