مطالعه ی جذب میکروویو نوار پهن هگزا فریت باریم از نوع m در حالت دو لایه

یکی از موثرترین روش های کاهش مقطع عرضی رادار (rcs) که معیاری از قابلیت آشکار شدن یک هدف توسط رادار می باشد، استفاده از مواد جاذب رادار (rams) است. فریت ها یکی از مواد معمول مورد استفاده در ساخت جاذب ها به شمار می روند. پژوهش حاضر با هدف مطالعه ی رفتار جذب میکروویو یک نوع فریت باریم نوع m با فرمول استوکیومتری ba(meco)xmn0.1fe11.9-2xo19 به ازای 2/1 و 1، 8/0، 6/0= x و si و zr ،ti = me انجام شده است. فرآوری ترکیب های مورد مطالعه با روش سنتز حالت جامد صورت گرفت. برای آنالیز فازی و اندازه ی ذرات پودرهای فرآوری شده به ترتیب از روش پراش اشعه ی x و میکروسکوپ الکترونی روبشی استفاده شد. مطالعه ی خواص مغناطیسی پودرها، به صورت نمونه های کامپوزیتی زمینه اپوکسی، با استفاده از دستگاه هیسترزیس گراف و بررسی رفتار جذب امواج الکترومغناطیس (em) آنها، به صورت رنگ های با پایه ی اپوکسی، با استفاده از دستگاه آنالیزگر شبکه ی برداری (vna) انجام شد. بررسی الگوهای پراش اشعه ی x تمامی ترکیب های مورد مطالعه نشان داد که ساختمان بلوری هگزاگونال تک فاز مورد نظر تشکیل شده است. بر اساس نتایج حاصل از اندازه گیری ویژگی های مغناطیسی تمامی ترکیب های سنتز شده یک ماده ی مغناطیسی نرم یا شبه نرم برآورد شدند. بیشترین مقدار جذب امواج em، درحالت تک لایه، در رنگ هایی به ضخامت mm2 با درصد تراکم وزنی 60%، که حاوی پودرهایی با اندازه ی متوسط ذرات حدود ?m1 بودند، حاصل شد. بررسی رفتار جذبی نمونه های دولایه ی تهیه شده از ترکیب های مختلف نشان داد که مقدار جذب این نمونه ها در ضخامت mm2 در محدوده ی فرکانسی باند x در سطح نسبتاً پایینی قرار دارد. افزایش ضخامت مجموع دو لایه به mm4 باعث شد، مقدار جذب به طور چشم گیری افزایش یابد. در نمونه ی دولایه با ضخامت mm2، استفاده از 3% الیاف کربن در ترکیب لایه ی دوم، باعث ایجاد جذب یکنواختی در حدود db5/3- در سرتاسر محدوده ی فرکانسی باند x شد.