ساخت ومشخصه یابی نانوکریستالهای cuxzn1-xfe2o4 و بررسی خصوصیات اپتیکی آن

پایان نامه
چکیده

نانوبلورهای مغناطیسی cu1-xznxfe2o 4 با میزان آلایش x=0, 0.25, 0.5, 0.75,1 توسط روش سل- ژل ساخته شدند. مشخصه یابی نمونه های سنتز شده توسط پراش اشعه (xrd) x ، میکروسکوپ الکترونی گسیل میدانی (fe-sem)،طیف سنجی مریی /فرابنفش و طیف فوتولومینسانس نمونه ها در دمای اتاق صورت گرفت. تحلیل طیف پراش اشعه x برای تمامی نمونه ها شکل گیری ساختار مکعبی اسپینلی تک فازی با گروه فضایی fd3m را نشان داد. برای محاسبه اندازه بلورک ها با استفاده ازنمودار ویلیامسون – هال اندازه بلورک ها در گستره 10 -70 نانومتر بدست آمد. به منظور بررسی توزیع کاتیونی و تعیین ثابت شبکه، با استفاده از نرم افزار maud براساس تحلیل ریتولد، طیف پراش پرتو x نمونه ها را ظریف سازی کردیم . براساس نتایج بدست آمده ثابت شبکه با افزایش میزان آلایش zn2+ افزایش می یابد. یون های روی جانشین یون های آهن در سامانه تتراهدرال می شوند و باعث انتقال بخشی از یون های مس از سامانه اکتاهدرال به تتراهدرال می شوند. اثر ژان – تلر توسط اندازه گیری طیف ftir مشاهده شد . به منظور محاسبه گاف انرژی طیف جذب نمونه ها در ناحیه مریی/ فرابنفش را تهیه نمودیم .طیف فوتولومینسانس نمونه ها برای تمامی نمونه ها وجود سه باند اصلی را نشان می دهد که موقعیت آن ها با افزایش آلایش روی تغییر نمی کند و تنها شدت آن متغیر است ، این باندها مربوط به گذار یون های آهن و گاف انرژی مستقیم می باشند.

منابع مشابه

ساخت ومشخصه یابی هیدروژل حاوی کورکومین بارگذاری شده در نانوذرات کیتوسان به عنوان زخم پوش نوین

در این تحقیق، نانو کمپلکس کیتوسان / کورکومین(Cs/Cr)    با درصد وزنی (1:1) Cr/Cs  (نمونه A)  و (2:1) Cr/Cs  (نمونه B) با روش کمپلکس دارو- پلی ساکارید ساخته شد و در داخل هیدروژل آلژینات/ کیتوسان کپسوله و مورد ارزیابی قرار گرفت. مورفولوژی سطح و گروه های عاملی موجود در روی سطح نمونه ها به ترتیب با میکروسکوپ (SEM و (FESEM و FTIR ارزیابی گردید. متوسط  قطر هیدرودینامیکی نانوکمپلکس A و B با روش پراکندگ...

متن کامل

ساخت و مشخصه یابی نانومیله های NiO رشدیافته توسط اسپاترینگ RF: مطالعه خواص اپتیکی وآب دوستی

در این پژوهش، ابتدا لایه های نازک نیکل به روش RF اسپاترینگ بر روی زیرلایه لام آزمایشگاهی تشکیل گردید و سپس لایه های اسپاتر شده، در دماهای مختلف در محیط اکسیژن پخت شدند. تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) نوع ساختار را به صورت  نانومیله های به قطر 35  نانومتر نشان  می دهند. با بررسی خواص اپتیکی، محدوده گاف انرژی بینeV 87/3-77/3 مشخص شده؛ همچنین زاویه تماس آب با سطح نمونه های پخت نشده، در حدود...

متن کامل

ساخت و بررسی خواص ساختاری، اپتیکی و مغناطیسی نانوذراتZn1-xNixO

In this article, the Zn1-xNixO nanoparticles with x= 0, 0.01, 0.02, 0.03, 0.04, 0.05, 0.08 and 0.1 have been produced by mechanochemical method. To investigate the structural, morphological, optical and magnetic properties of the samples, the X-ray diffraction, field emission scanning electron microscope, UV-visible spectroscopy, photoluminescence and vibrating sample magnetometer have been use...

متن کامل

ساخت و بررسی خواص ساختاری، اپتیکی و مغناطیسی نانوذراتzn۱-xnixo

در این مقاله، از روش مکانوشیمیایی برای تولید نانوذرات zn1-xnixo که در آن x برابر 01/0، 02/0، 03/0، 04/0، 05/0، 08/0 و 1/0 است، استفاده شده است. برای بررسی خواص ساختاری از الگوی پراش پرتوx، ریخت­شناسی ذرات از میکروسکوب الکترونی روبشی نشر میدانی، خواص اپتیکی از طیف­سنج فرابنفش- مرئی و طیف­سنج فوتولومینسانس و خواص مغناطیسی از مغناطیس­سنج نمونه­ی ارتعاشی استفاده شده است. نتایج الگوی پراش پرتوx نشان...

متن کامل

ساخت و مشخصه یابی نانومیله های nio رشدیافته توسط اسپاترینگ rf: مطالعه خواص اپتیکی وآب دوستی

در این پژوهش، ابتدا لایه های نازک نیکل به روش rf اسپاترینگ بر روی زیرلایه لام آزمایشگاهی تشکیل گردید و سپس لایه های اسپاتر شده، در دماهای مختلف در محیط اکسیژن پخت شدند. تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) نوع ساختار را به صورت  نانومیله های به قطر 35  نانومتر نشان  می دهند. با بررسی خواص اپتیکی، محدوده گاف انرژی بینev 87/3-77/3 مشخص شده؛ همچنین زاویه تماس آب با سطح نمونه های پخت نشده، در حدود...

متن کامل

Internal Friction Studies in NixZn1-xFe2O4 Films

Internal friction in polycrystalline( Nix Zn,., ) Fe204( where x =0.2, 0.6 and 0.8) films has been measured using one crystal composite oscillator method. The internal friction was recorded at three different frequencies i.e, 60, 100 and 160 KHz in the temperature range of 80 to 600 K. The films used are prepared by rf-sputtering method on quartz plate substate. X-ray analysis was carried out o...

متن کامل

منابع من

با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده

{@ msg_add @}


نوع سند: پایان نامه

وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه الزهراء - دانشکده علوم پایه

میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com

copyright © 2015-2023