نتایج جستجو برای: لایه نقص مغناطیسی

تعداد نتایج: 33170  

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه تربیت مدرس - دانشکده فنی 1394

موضوع رساله بررسی اثر نقص های هندسی کوچک محلی، بر روی یک صفحه همگن و لایه چینی شده، جهت تعیین رفتار آیروالاستیک، کمانش و ارتعاشی صفحه و تعیین محدوده ی ناپایداری فلاتر و کمانش است. با توجه به امکان ایجاد نقص های کوچک غیرمتقارن و ناهماهنگ با مودهای اصلی و کمانشی صفحه، (که دارای شبیه سازی و حل پیچیده ای نسبت به نقص های متناسب با مودهای سازه هستند)، بررسی اثر این نوع نقص ها از دیدگاه آیروالاستیک و ...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه فردوسی مشهد - دانشکده علوم 1393

خواص ساختاری و مغناطیسی چند لایه ای fe/sb/mn تحت تاثیر تغییر در ضخامت لایه جدا کننده غیر مغناطیسی sb بررسی شد و مشاهده شد که با تغییر این ضخامت جفت شدگی بین دو حالت فرومغناطیس و پادفرومغناطیس تغیییر می کند.

هدف از این تحقیق ساخت نانوذرات مس- نیکل با اندازه های مختلف، به منظور  بررسی خواص کاتالیستی، مغناطیسی و حسگری این نانوذرات    می باشد. بنابراین نانو ذرات هسته-پوسته ای مس- نیکل در بستر لایه نازک کربنی به روش همزمان انباشت بخار شیمیایی و کند وپاش پلاسمای امواج رادیویی از هدف مس و نیکل در محیط گاز استیلن ساخته شد. ابتدا نانو ذرات مس در بستر کربنی آماده شدند. سپس لایه نیکل با ضخامت های مختلف روی آ...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی - دانشکده فیزیک 1392

در این پایان نامه، از شیوه ای نوین برای تولید نانو میله های zno بر روی زیرآیند شیشه استفتده شده است که تا کنون گزارش نشده است. ابتدا لایه های نازک zn در خلأ 10-^5 mbar در سه چیدمان مختلف لایه نشانی شد. در چیدمان اول، لایه ها در حضور میدان الکتریکی v/m000,10 لایه نشانی شد. در چیدمان دوم و سوم لایه ها در حضور میدان الکتریکی v/m000,10 و میدان مغناطیسی حاصل از یک و دو آهنربای نئودیمیوم تخت لایه نشا...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه شاهد - دانشکده علوم پایه 1391

از تصاویر afm جهت بررسی مورفولوژی سطح لایه ها و برای سه نمونه (0c 100، 0c 200و 0c 300)انجام دادیم. نشان داده شد که لایه ها به صورت تقریبا یکدست نهشته شده و در دو دمای 0c 100، 0c 200 نمونه ها به صورت منظم و دانه ای تشکیل یافته است ولی در دمای دیگر خصوصاً بر زیر لایه سیلیکون، سطح صافتر به نظر می رسد. با بررسی طرح پراش اشعه x (xrd) متوجه تشکیل لایه و دانه های بلوری در همه نمونه ها شده و شاهد تغی...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی شاهرود 1390

در این پایان نامه لایه های نازک اکسید قلع خالص و آلایش یافته با درصدهای مختلف کبالت و آهن بر روی زیرلایه های شیشه و سیلیکون به روش سل-ژل سنتز شدند و تاثیر آلایش آهن و کبالت، دمای بازپخت، ضخامت لایه و نوع زیرلایه روی خواص ساختاری، اپتیکی، مغناطیسی و الکتریکی نمونه ها مورد بررسی قرار گرفت. برای مشخصه یابی نمونه ها از اندازه گیری طیف پراش اشعه ایکس، طیف عبور در محدوده 300-1100 نانومتر و ثبت تصاویر...

ژورنال: :فصلنامه علمی - پژوهشی مواد نوین 2013
امیرحسین اسلامی محمد محسن مشکسار سید مجتبی زبرجد

روش تغییر شکل پلاستیک شدید (spd) به عنوان یکی از روش های تولید مواد به اندازه دانه نانومتری مطرح می باشد. برای ایجاد یک ساختار با دانه های ریز (با اندازه دانه کم تر از یک میکرون) لازم است از راه اعمال کرنش های پلاستیک زیاد دانسیته بالایی از نابه جایی ها ایجاد شود. فرآیند نورد تجمعی arb به عنوان یکی ازپرکاربردترین روش های اعمال تغییر شکل شدید پلاستیک و دستیابی به ساختارهای با اندازه دانه نانومتر...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه مازندران - دانشکده علوم پایه 1392

در این پژوهش مدهای پلاسمون سطحی در ساختارهای چندلایه ای نانو مقیاس را مورد بررسی قرار می‎دهیم. در قسمت اول این پایان‎نامه با کمک معادلات ماکسول به یافتن مدهای ساختار چندلایه‎ای نانومقیاس می‎پردازیم. باشروع از معادلات ماکسول و حل یک معادله ویژه‎مقداری، میدان مغناطیسی را از ویژه‎توابع پاسخ معادله دیفرانسیل می‎یابیم. سپس با حل معادلات ماکسول و اعمال شرایط مرزی مناسب بر ساختار چندلایه ای (ساختار هف...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه شهید بهشتی - دانشکده علوم 1389

چکیده ندارد.

پایان نامه :دانشگاه آزاد اسلامی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی - دانشکده فیزیک 1391

در این رساله خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی لایه های نازک کربن مس مورد بررسی قرار گرفته است. لایه های نازک کربن مس بر روی زیر لایه شیشه تهیه شدند. این لایه ها به دو روش کندوپاش مغناطیسی rf و dc در زمانهای مختلف در دمای اتاق لایه نشانی شدند. سپس با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی afm))، edx، میکروسکوپ روبشی (sem)، طیف پراش اشعه ایکس(xrd)، طیف سنج ft-ir و جذب نوری uv_vis مورد مطالعه و بررسی قرار...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید