آشکارسازی عیب سیستمهای غیرخطی چندمتغیره با عدم قطعیت، با استفاده از رویتگر غیرخطی مقاوم و تخمینگر عیب عصبی

در این مجلد، در ابتدا دسته های مختلف روش های عیب یابی، شامل دو دسته ی عمده ی عیب یابی برپایه ی مدل و عیب یابی برپایه ی حافظه ی فرآیند بررسی می شوند. بررسی روش های یادشده به همراه تاریخچه و با تعریف مفاهیم اولیه در حوزه ی متناظر همراه می باشد. در ادامه بر دسته ی اول متمرکز شده و در جستجوی روش هایی از این دسته است که متناسب با سیستم های غیرخطی می باشد. برای بررسی روش های عیب یابی برپایه ی مدل در سیستم های غیرخطی چهار گروه مدنظر قرار می دهد: روش های هندسی، روش های برپایه ی رویتگر تطبیقی، روش های برپایه ی رویتگر مقاوم، و روش های برپایه ی رویتگر مود لغزشی. ساختار کلی روش های هر یک از این چهار گروه با توجه مقالات دهه ی اخیر توضیح داده می شود. در نهایت مجموعه با پیشنهادات و نتیجه گیری به پایان می رسد.