نتایج جستجو برای: ضخامت لایه ای

تعداد نتایج: 253534  

در این مقاله، ابتدا روابطی جدیدی برای خمش ورق چند لایه ای دارای لایه های FGM به صورت تغییر خواص طبق قانونی توانی، به روش حل دقیق الاستیسیته سه بعدی مواد ناهمگن، ارائه می شود. با استفاده از تغییر خواص طبق قانون توانی و نمایی برای یک ورق 6 لایه ای تحت بار خمشی سینوسی و با استفاده از متغیرهایی شامل ثابت های رابطه تغییر خواص توانی و نمایی در هر لایه و همچنین ضخامت لایه ها، بر پایه حل دقیق، تابع هدف...

در این پژوهش، نتیجه­ های مربوط به تغییرهای ساختاری و ویژگی­ های مغناطیسی چند لایه ­ای Fe/Al/Fe رشد یافته بر روی زیرلایه ی Si(100) مورد مطالعه قرار گرفت. نانو لایه های نازک به روش کندوپاش مگنترونی RF لایه نشانی شدند به طوری که ضخامت هر لایه  nm30 می‌باشد. نتیجه­ های تحلیل XRD  نشان داد جهت ترجیهی  سه لایه ای Fe/Al/Fe در راستای (200)  می باشد. در ادامه به­ منظور بررسی رف...

ژورنال: :پژوهش فیزیک ایران 0
فایق حسین پناهی f hosseinpanahi university of bu ali sinaدانشگاه بوعلی سینا همدان داود رئوفی d raoufi university of bu ali sinaدانشگاه بوعلی سینا همدان

در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیوم آلاییده با قلع ( ito ) در ضخامت های مختلف به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی بستره شیشه ای در دمای اتاق تهیه شده است. ضخامت لایه ها 100 ، 150 و 250 نانومتر می باشد. با استفاده از تحلیل فرکتالی، فرآیند رشد لایه (افزایش ضخامت) بر خصوصیات مورفولوژیکی سطح در حالت آمورف مورد بررسی قرار گرفت. مشاهده شد که با افزایش ضخامت، ناهمواری سطح ( rms ) w و طول همبستگ...

ژورنال: :مهندسی مکانیک مدرس 2014
محمد مهدی سمندری کارن ابری نیا عباس اکبرزاده

اتصال چرخشی یکی از روشهای تولید لوله های دولایه، بر مبنای فرآیند فلوفرمینگ، می باشد. این روش جدید دارای پتانسیل بالایی در تولید لوله های دوفلزی جدار نازک و بدون درز است. با استفاده از این روش، آلومینیم (به عنوان لایه ی داخلی یا لایه ی روکش)، و فولاد (به عنوان لایه ی خارجی)، با موفقیت اتصال داده شد و لوله های کامپوزیتی لایه ای تولید شدند. به عنوان پارامترهای مهم برای ایجاد یک اتصال مناسب، اثر پا...

ژورنال: :مجله فیزیک کاربردی 2015
اعظم سلطان آبادی عبدالله مرتضی علی

در این پژوهش لایه های نازک رسانا و شفاف fto را به روش اسپری بر روی زیرلایه های شیشه لایه نشانی کرده ایم. تاثیر حجم محلول (ضخامت لایه ها) و نسبت آلایش f را بر خواص الکتریکی و اپتیکی لایه ها مورد بررسی قرار گرفت. مورفولوژی نانوساختارها و نحوه رشد آنها را توسط تصاویر sem مورد تجزیه و تحلیل قرار گرفت. طیف عبور اپتیکی توسط دستگاه طیف سنج optics ocean و مقاومت سطحی لایه ها بر حسب حجم محلول (ضخامت لای...

ژورنال: :مجله فیزیک کاربردی 2015
سمیرا ولی محمدی مرتضی ایزدی فرد محمد ابراهیم قاضی بهرام بهرامیان

ابتدا لایه های نازک اکسید کادمیوم روی cdzno به ضخامت متوسط 155 نانومتر بر روی زیر لایه های شیشه ای با روش سل-ژل چرخشی رشد داده شدند. سپس لایه های آماده شده در دماهای 500 و 450 درجه سانتیگراد بازپخت شدند. خواص اپتیکی و ساختاری این نمونه ها با استفاده از نتایج حاصل از اندازه گیری های طیف عبور و بازتاب و پراش پرتوایکس و همچنین تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی بررسی شدند. نتایج این مطالعه نشان داد ک...

ژورنال: ارمغان دانش 2019
ساسانی, فرهنگ, مروتی, حسن, نادری, شایان,

چکیده زمینه: امروزه با افزایش جمعیت انسان و شیوع 20-8 درصدی آلودگی با سرب در جهان و با توجه به نیمه عمر زیستی سرب، با گذشت زمان در بدن تجمع می یابد و باعث اختلالات سیستم عصبی مرکزی می شود و مهمترین اندام هدف سرب مغز می باشد و.با توجه به اثرات سمی‌ سرب  که در سطوح پایین باعث چندین اختلال مانند ضعف، اختلال در توانایی و رفتار فکری و یادگیری کودکان، کاهش حس شنوایی و بینایی، تخریب سلول‌های خاکستری م...

ژورنال: :مهندسی مکانیک مدرس 2015
احسان پلویی مهدی زمانیان سید علی اصغر حسینی

در این پژوهش تغییرشکل استاتیکی و فرکانس طبیعی میکروتیر یکسر درگیر دو لایه تحت تحریک الکترواستاتیک که لایه دوم بخشی از طول لایه اول را می پوشاند مطالعه می شود. این مدل المان بسیاری از میکروسنسورها و میکروسوئچ ها می باشد. ابتدا معادله حرکت غیرخطی با فرض کوتاه شوندگی تارخنثی خمشی با استفاده از اصل هامیلتون استخراج می شود. سپس معادلات دیفرانسیل حاکم بر تغییرشکل استاتیکی و فرکانس ارتعاش آزاد حول موق...

در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ITO) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت‌های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (XRD) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (XRR) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...

ژورنال: فیزیک زمین و فضا 2002
ایرج عبدالهی فرد جاوید حسن زاده آذز

به کارگیری نشانگرهای لرزه نگاری یکی از متداول ترین، بهینه ترین روش های بررسی، شناخت تغییرات زیر سطحی است. در این میان، نشانگرهای لرره نگاری شیب، ضخامت، واقعی می تواند نقش به سزایی در اکشاف، تولید ذخایر هیدروکربوری، تشخیص پدیده های ساختمانی از قبیل گسل خوردگی، همچنین به تصویرکشیدن لبه های تغییرات چینه شناسی داشته باشد. در این مقاله، نحوه به کارگیری شاخص های لرزه نگاری شب، ضخامت، واقعی در تعیین ...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید