نتایج جستجو برای: میکروسکوپ نیروی اتمی afm

تعداد نتایج: 45062  

ژورنال: فیزیک کاربردی 2013

    در این پژوهش، لایه های نازک اکسید روی با ضخامت های متفاوت بین 46 تا 317 نانومتر بر روی زیرلایه شیشه به روش اسپری لایه نشانی شده اند. موفولوژی و میزان زبری سطح لایه ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی ( SEM ) و میکروسکوپ نیروی اتمی ( AFM ) اندازه‌گیری شده اند. تصاویر AFM و SEM لایه‌ها نشان می‌دهند که در روند رشد و زبری لایه‌ها با افزایش ضخامت، دو حالت متفاوت رشد مشاهده می شود. نخست با ...

در این تحقیق،ابتدا لایه های نازک نیکل با روش تبخیر باریکه الکترونی تحت شرایط انباشت یکسان بر روی زیرلایه های سیلیکان و کوارتز لایه نشانی شده و سپس تحت فلوی اکسیژن در دماهای متفاوت C° 700-400 در کوره الکتریکی بازپخت حرارتی شدند. تاثیر دمای بازپخت بر روی ویژگی های ساختاری، مورفولوژیکی و نوری نمونه ها به ترتیب با آنالیزهای پراش اشعه ایکس (XRD)، میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM) ، میکروسکوپ الکترونی روبشی ...

ژورنال: :علوم و مهندسی سطح ایران 0

در این مقاله استفاده متوالی از دو روش کندوسوز لیزری و احیای خودبخودی به عنوان یک روش ترکیبی موفق برای تولید نانوذرات دوتایی pd-moo3-x گزارش می شود. در ابتدا نانوذرات اکسید مولیبدن به روش کندوسوز لیزری در محیط مایع، شامل h2o یا h2o2 با استفاده از لیزرهای پالسی اگزایمر (krf, λ=248 nm) و یا حالت جامد (nd:yag, λ=1064 nm) ساخته شدند. سپس محلول pdcl2 با غلظت های مختلف به نانوذرات کلوییدی افزوده شد تا...

ژورنال: :علوم و مهندسی سطح ایران 0

در سالهای اخیر چیتوسان به جهت زیستسازگاری و زیستتجزیه پذیری بسیار مورد توجه قرار گرفته است. غشاءهای چیتوسان با ضخامت 30 میکرومتر تهیه شدند و با استفاده از یون آرگون اصلاح گردیدند. غشاءها با استفاده از سه انرژی 15، 25و80 کیلو الکترون ولت و با شارهای 1015 × 1، 1015 × 3 و1015 × 5 یون بر سانتیمترمربع بمباران شدند. تأثیرات بمباران یونی بر روی خواص پایه ای غشاءها مانند مورفولوژی، جریان آب نفوذ کننده ...

ژورنال: لیزر پزشکی 2011
باقری خولنجانی, شاداب, دلیری, مرتضی, زارع شحنه, علیرضا, میرزاده, حمید,

  در این تحقیق، سطح فیلم های پلی استایرن با استفاده از لیزر اکسایمر ArF با طول موج nm 193و در تعداد پالس­های متفاوت 1، 5 و 10 اصلاح شد. تغییرات سطحی با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی( AFM )، میکروسکوپ الکترونی روبشی ( SEM )، بازتاب کلی تضعیف شده تبدیل فوریه مادون قرمز ( ATR-FTIR ) و اندازه­گیری­های زاویه تماس بررسی شد. جهت بررسی تغییرات زیست سازگاری سطح پلی­استایرن بعد از تابش دهی توسط لیزر، ا...

هدف اصلی این تحقیق، بررسی خواص ساختاری و مغناطیسی لایه نازک FePt نسبت به دمای بازپخت است. لایه‌های نازک FePt به روش کندوپاش روی زیرلایه شیشه ای با نرخ                          6 و با توان W 110 رسوب داده شدند. خلأ اولیه محفظه کندوپاش برابر Torr 7-10 5 و فشار گاز آرگون mTorr 3 در نظر گرفته شد. پس از تهیه نمونه‌ها، در محدوده 650-450 به مدت 30 دقیقه بازپخت شدند. شناسایی فازی لایه نازک ب...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه بوعلی سینا - دانشکده علوم پایه 1390

??????رزین های اپوکسی دارای مزیت های بسیاری مانند قیمت تولید پایین، مقاومت شیمیایی بالا و ویژگی-های مکانیکی عالی هستند. این رزین ها به عنوان گرماسخت ها بطور گسترده ای در کاربردهای فنی مانند پوشش ها، چسب ها، مواد رنگی و وسایل الکترونیکی استفاده می شوند. با این وجود، عوامل محیطی بسیاری مانند رطوبت، باران اسیدی و تابش فرابنفش وجود دارند که برای پلیمر مخرب هستند. تابش فرابنفش بیشترین اثر تخریبی را ...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه بوعلی سینا - دانشکده علوم پایه 1390

از سال 1947 رزین اپکسی بطورگسترده ایی در صنایع مختلف مانند:پوشش های سطحی، چسب ها، مواد رنگی و وسایل الکترونیکی استفاده می شود. بنابراین تحقیقات بسیاری برای بهبود خواص این پلیمر بکار برده شده است. باتوجه به کاربرد بسیار زیاد این پلیمر و هزینه های سنگینی که در نتیجه تخریب آن توسط عوامل محیطی و اسیدها ایجاد می شود در این پایان نامه سعی کردیم برای بهبود خواص این ماده از نانوذرات کِلی (خاک رس) و دی ا...

در این پژوهش به منظور بهبود خواص فیلم‌های زیست تخریب‌پذیر نشاسته‌ای، از سه ترکیب اسید سیتریک، کربوکسی متیل سلولز (CMC) و نانورس استفاده شد و تأثیر هرکدام از این ترکیبات بر روی ویژگی‌های مورفولوژیکی و میزان زبری فیلم‌ها و هم‌چنین یکنواختی آن‌ها مورد مطالعه قرار گرفت. در ادامه، تأثیر غلظت نانورس بر روی ویژگی بازدارندگی این فیلم‌ها نسبت به رطوبت بررسی شد. نتایج آزمون میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) نشا...

لایه های نازک دی اکسید تیتانیوم با ضخامت 280 نانومتر با استفاده از روش کنــــدو پاش مغناطیسیDC روی زیر لایه شیشه تهیه شده اند.برای لایه نشانی از هدف فلز تیتانیوم به صورت ورق و گاز ترکیبی آرگون و اکسیژن و زیرلایه ای با دمای 250 درجه سانتی گراد استفاده شده است. دستگاه پراش اشعه X (XRD) فاز آناتاز را برای نمونه ها نشان داده است و توپوگرافی سطح با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) مورد بررسی قر...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید