نتایج جستجو برای: میکروسکوپ نیروی اتمی afm

تعداد نتایج: 45062  

در این پژوهش، کامپوزیت و نانو­کامپوزیت­ رسانای جدید از پلی­ آنیلین به­ روش پلیمرشدن اکسایشی شیمیایی در جای آنیلین روی بستر سولفوریک اسید برپایه سیلیکا و نانوسیلیکا تهیه شد. در این فرایند آمونیوم پرسولفات به­ عنوان اکسنده عمل می کند و واکنش در شرایط حالت جامد (بدون حلال) درون هاون در دمای محیط انجام شد. ساختار، اندازه و شکل ­شناسی تمام نمونه­ ها با استفاده از روش­ های طیف­ سنجی زیرقرمز تبدیل فور...

در این پژوهش، فیلم‌های نانوزیست‌کامپوزیت جدید نشاسته سیب‌زمینی حاوی نرم‌کنندۀ گلیسرول و چهار سطح نانوذرۀTiO2 (0، 5/0، 1 و 2% وزنی- وزنی نشاسته) به روش قالب‌ریزی تهیه شدند. بررسی ریزساختار فیلم‌های نانوبیوکامپوزیتی توسط آزمون‌های میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و طیف‌سنجی‌ فروسرخ (FT-IR)، به‌ترتیب پخش یکنواخت نانوذرات TiO2در ماتریس نشاسته، ایجاد پیوندهای هیدروژنی و برهمکنش‌های الکترواستاتیک بین آنها ...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه کاشان - دانشکده مهندسی مکانیک 1391

در این پایان نامه حل تحلیلی بسته ارتعاشات عرضی اجباری غیر خطی و همچنین کنترل مقاوم میکرو/نانوتیر یک سرگیردار میکروسکوپ نیروی اتمی مورد مطالعه قرار گرفته است. تحلیل پایداری تصویربرداری و اندازه گیری سطوح نیاز به بررسی دقیق تری از دینامیک تیر میکروسکوپ دارد، از اینرو تحلیل فرکانسی مجموعه مرتعش و همچنین کنترل فعال سیستم جهت حفظ وضعیت مطلوب از اهمیت بسیار زیادی برخوردار است. بدین منظور تحلیل ارتعاش...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه علوم کشاورزی و منابع طبیعی ساری - دانشکده مهندسی 1392

تهیه و تولید مواد بسته بندی با هدف حفظ و بهبود کیفیت، افزایش عمر ماندگاری و حفاظت مواد غذایی در برابر انواع آلودگی های میکروبی و فساد های شیمیایی یکی از دغدغه ها و موضوعات تحقیقاتی برای محققین فعال در عرصه صنعت غذا در سال های اخیر بوده است. در این راستا تولید فیلم های خوراکی از جایگاه به خصوصی در بین انواع بسته بندی های نوین برخوردار است. در این مطالعه از صمغ چرخک و نرم کننده های سوربیتول، گلیس...

ژورنال: :مهندسی مکانیک مدرس 2015
معین طاهری

در نانومنیپولیشن با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی، جهت جابه جایی میکرو/نانوذرات مختلف، محاسبه ی دقیق نیرو و زمان بحرانی منیپولیشن به منظور عدم آسیب دیدن و جابه جایی دقیق میکرو/نانوذرات هدف، امری ضروری می باشد. برای رسیدن به این هدف نیاز به مدل سازی دقیق سینماتیک و دینامیک نانومنیپولیشن می باشد که پیش از این به صورت دوبعدی صورت پذیرفته است. در این مقاله به مدل سازی و شبیه سازی دینامیک سه بعدی ...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه کاشان 1389

در این پروژه نانوساختارهای pbs، sns، cds، cus و bi2s3 از طریق روش هیدروترمال و با استفاده از تیوگلیکولیک اسید سنتز شدند. ایده جدید در این سنتز استفاده از تیوگلیکولیک اسید به عنوان منبع سولفور و عامل پوشاننده به طور همزمان می باشد، به طوری که در کارهای قبل، از این ماده تنها به عنوان عامل پوشاننده استفاده شده است. نانوساختارها توسط آنالیزهای پراش پرتو ایکس (xrd) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) و...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه تربیت مدرس 1387

در تحقیق حاضر، لایه نانوساختار الکتروکرومیک اکسید تنگستن با چند روش تولید و روش بهینه انتخاب گردید و اثر پارامترهای دما و ضخامت بر روی آن بررسی شد. بر روی نمونه های بدست آمده، آنالیزهای پراش اشعه ایکس (xrd) ، میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) ، میکروسکوپ نیروی اتمی (afm) ، تفکیک انرژی (edx) ، ولتامتری چرخه ای (cv) ، طیف جذبی، طیف عبوری و زمان پاسخ انجام شد. نتایج نشان داد که دمای پخت 300 ℃ دمای به...

پایان نامه :دانشگاه آزاد اسلامی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی - دانشکده فیزیک 1391

در این رساله خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی لایه های نازک کربن مس مورد بررسی قرار گرفته است. لایه های نازک کربن مس بر روی زیر لایه شیشه تهیه شدند. این لایه ها به دو روش کندوپاش مغناطیسی rf و dc در زمانهای مختلف در دمای اتاق لایه نشانی شدند. سپس با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی afm))، edx، میکروسکوپ روبشی (sem)، طیف پراش اشعه ایکس(xrd)، طیف سنج ft-ir و جذب نوری uv_vis مورد مطالعه و بررسی قرار...

ژورنال: :نشریه مهندسی مکانیک امیرکبیر 2009
انوشیروان فرشیدیان فر محمد هادی مهدوی حمید دلیر

میکروسکوپ نیروی اتمی (atomic force microscope) یا به اختصار afm، ابزاری قدرتمند و ضروری در نانوتکنولوژی است که برای مطالعه، تصویر­برداری و شناسایی مواد مختلف با تفکیک اتمی بکار می­رود و در سه مد تماسی، غیر تماسی و کوبشی کار می­کند. در این مقاله ارتعاشات خمشی تیر یکسر­گیردار مورد استفاده در این دستگاه که در مد غیر تماسی نمونه هایی با سختی سطح متفاوت را اسکن می­کند بررسی می­شود. یافتن فرکانسهای ط...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه علم و صنعت ایران 1379

در این پایان نامه بعد از معرفی میکروسکوپهای stm و afm چگونگی کارکرد آنها مورد بررسی قرار گرفته است . زیگنالهای دریافتی از نوک میکروسکوپ stm بعد از تبدیل d to a به عنوان داده های ابتدایی مورد پردازش قرار گرفته و روشهایی برای بهبود تصاویر به دست آمده است و همینطور چگونگی دریافت اطلاعات مورد نظر از تصاویر در اثر پردازش بحث شده است . در انتها نیز طراحی نرم افزاری با فرض در اختیار داشتن برخی پارامتر...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید